银饰品标准样品的研制

本文叙述了银饰品标准样品的研制。该标样表面光谱，成分均匀，无缩孔，成分为Ａｇ，Ｃｕ，Ｚｎ，Ｎｉ适用于银饰品的无损检测。     

白银制品中银含量的能量色散X射线荧光光谱无损检测

用放射性同位素源激发小型能量色散Ｘ射线荧光;光谱仪对银饰品、餐具、摆件中的银含量进行无损快速宣测定,在银含量为１０．００％～９９．９％扣范围内,测定精度和准确度均能满足实际检测误差要求。测定结果与大型的波长色散型Ｘ射线荧光光谱仪一致。     

基体分离-电感耦合等离子体质谱法测定高纯硒中13种杂质元素

采用基体分离-电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定高纯硒中13种痕量杂质元素含量,优化了试验条件.利用二氧化硒在真空条件下升华温度低的特点挥发基体硒,选择合适的内标元素,考察基体效应的影响.结果表明,选择Cs作为待测元素的内标更合适.测定硒残留量小于100 μg/mL的样品,不影响各待测元素.方法检出限为0.007~0.033 μg/g,RSD为5.7%~19%,加标回收率在90.2%~115%之间,可以满足高纯硒中痕量杂质元素含量的测定.