高压X光机发射谱的测量与研究

本文描述了测量高压Ｘ光机发射谱的技术,并成功地测量了１４０ｋＶ高压Ｘ光机的发射谱。研究了滤波片对Ｘ光机发射谱特性的影响,在此基础上提出了可根据不同的测试目的和条件,用不同的滤波片可形成高强度的准单能,双能等Ｘ光激发源及其可能的应用领域。     

微波消解-ICP-AES法测定氧化铝中杂质元素

采用微波消解法,将样品用磷酸溶解,用ICP-AES测定氧化铝中Na、K、Ca、Si、Fe、Ti、Mn、Zn、Cu、V、Cr和B等12种杂质元素,采用测定标样、加标回收试验和精密度试验证明该方法简便快速,准确可靠。     

提高高压X光机激发的XRF谱测量灵敏度的一种方法

本文通过分析高压Ｘ光机激发的Ｘ射线荧光（ＸＲＦ）在线测量系统中的灵敏度低等问题的原因，提出了用准直技术提高灵敏度的方法，并设计，加工了一个内径１．５ｃｍ，长７．５ｃｍ的准直器，实验结果满意。在此基础上，对进一步改进该在线测量系统的性能进行了讨论。     

硫氰酸盐—罗丹明B—吐温20体系光度法测定微量硒的研究

研究了利用罗丹明B对硫氰酸盐和硒 (Ⅳ )的结合反应定量测定微量硒的吸光光度法。试验表明 ,pH为 2 .95时 ,在Se SCN RhDB三元体系中 ,硒量在 0～ 10 μg/2 5ml范围内符合比耳定律ε =9.97× 10 4 L·mol- 1·cm- 1,该法用于饮水、污水、生物样品和微化剂中硒的分析 ,结果满意 ,回收率可达 94 %～ 10 8%