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表面 (或电子 )扩展的能量损失精细结构 (SurfaceorElectronExtendedEnergyLossFineStructure ,即SEELFS或EELFS)谱是近二十年来新发展起来的一种表面分析技术 ,文献中已大量报导过有关EELFS在不同体系中应用的研究结果[1 -5].EELFS技术具有设备简单 ,无热效应 ,收谱时间短 ,且不要求固体表面长程有序等优点[6],但是国内关于EELFS技术的报导还不多见.为此 ,我们对本实验室现有的俄歇电子能谱仪作了一些改进 ,并以此作为实验设备 ,用EELFS技术分析… 相似文献
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