基于EuTFC的低温荧光热成像技术的非原位标定

低温极端环境下,传统的温度测量多采用粘贴温度计的测量方法,但是这种方法面临仅能够实现点测、受电磁场环境影响显著及加载过程中易脱落等问题。本文提出了一种基于Europium tris[3-(trifluoro-methylhydroxymethylene)-(+)-camphorate](EuTFC)的低温荧光热成像技术,该方法具有全场非接触式测量、不受电磁干扰及适用于加载过程等优势。传统的标定需要在实验过程中选择一个温度(对应于光强)作为基准,并以此为基础通过图像处理获得亮度和温度标定曲线,然而这种标定方法面临着多次实验过程难以统一的问题。为此,本文系统研究了基于EuTFC低温荧光剂的样品制作工艺,组建了一套荧光热成像测试系统,通过给出荧光的温度依赖性曲线,验证了非原位标定的可靠性并由此证实了该方法在低温变形过程中进行温度测量的可行性。