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Two new marine sediment standard reference materials (SRMs) for the determination of organic contaminants 总被引:3,自引:0,他引:3
Wise SA Poster DL Schantz MM Kucklick JR Sander LC Lopez de Alda M Schubert P Parris RM Porter BJ 《Analytical and bioanalytical chemistry》2004,378(5):1251-1264
Two new marine sediment standard reference materials (SRMs), SRM 1941b Organics in Marine Sediment and SRM 1944 New York/New Jersey Waterway Sediment, have been recently issued by the National Institute of Standards and Technology (NIST) for the determination of organic contaminants including polycyclic aromatic hydrocarbons (PAHs), polychlorinated biphenyl (PCB) congeners, and chlorinated pesticides. Both sediment SRMs were analyzed using multiple analytical methods including gas chromatography/mass spectrometry (GC/MS) on columns with different selectivity, reversed-phase liquid chromatography with fluorescence detection (for PAHs only), and GC with electron capture detection (for PCBs and pesticides only). SRM 1941b has certified concentrations for 24 PAHs, 29 PCB congeners, and 7 pesticides, and SRM 1944 has certified concentrations for 24 PAHs, 29 PCB congeners, and 4 pesticides. Reference concentrations are also provided for an additional 58 (SRM 1941b) and 39 (SRM 1944) PAHs, PCB congeners, and pesticides. SRM 1944, which was collected from multiple sites within New York/New Jersey coastal waterways, has contaminant concentrations that are generally a factor of 10–20 greater than SRM 1941b, which was collected in the Baltimore (Maryland) harbor. These two SRMs represent the most extensively characterized marine sediment certified reference materials available for the determination of organic contaminants.Electronic Supplementary Material Supplementary material is available in the online version of this article at . A link in the frame on the left on that page takes you directly to the supplementary material. 相似文献
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中国海大陆架沉积物超细标准物质系列研制 总被引:8,自引:0,他引:8
5个中国海大陆架沉积物标准物质的原样分别取自东海和南海,样品风干后,先经球磨制备成200目的均匀粉体,再用气流磨进一步加工成超细粒度的均匀样品.采用激光粒度仪检测了样品的粒度分布,5个样品的平均粒度均小于4 μm(约800目).采用高精度的XRF检验了样品的均匀性并以高灵敏度的ICP-AES、ICP-MS相配合确定了其最小取样量(5 mg).有12个实验室参加了合作定值研究,定值组分均为60个,其中MSCS-1,2分别有50和51个组分定为标准值,MSCS-3,4,5有52个组分定为标准值.全组分百分总和分别为99.9%, 99.9%, 100.4%, 100.1%和99.7%. 相似文献
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一种可用于离面位移测量的光路的优化设计 总被引:2,自引:1,他引:2
为了实现对复杂三维物体表面轮廓、小空间内物体的纵向位移或振动等测量,有必要研制高分辨力、非接触的光学检测系统。由于激光多普勒技术具有动态响应快、线性度好、非接触、测量精度高等特点而优先被用于复杂三维物体离面位移的测量。但是物体表面散射光的多普勒信号非常微弱,因此解决信号的强度、信噪比则是实现测量的关键。研究了激光多普勒技术及散射光相位的无规变化的统计规律,设计出一种空间分辨力很高的参考光路,将它用于固体离面位移测量效果很好,其相对误差为0.3%。 相似文献
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对等曲率物参光像面数字全息显微成像系统进行研究,分析了光路配置方法,推导了系统的点扩散函数,并由此指出了决定系统成像分辨率的因素及系统的成像特点,最后讨论了再现像光场一次位相畸变校正的方法.结果表明,等曲率物参光像面数字全息具有最大的信息容量;该系统的成像分辨率取决于显微物镜的数值孔径和CCD的像元大小,与CCD的光敏面尺寸无关;物体各点中通过显微物镜的所有频率成分均能被系统完全记录与再现,样品被照亮区域的大小对记录条件和再现像质没有影响;等曲率物参光像面数字全息系统是一种优化的全息记录与再现系统,利用该系统可以实现高质量成像.实验结果验证了理论分析的正确性. 相似文献