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101.
102.
We prove by using well-founded trees that a countable product of supercomplete spaces, scattered with respect to ech-complete subsets, is supercomplete. This result extends results given in [1], [5], [6], [19], [26] and its proof improves that given in [19]. 相似文献
103.
104.
Institute of Molecular and Atomic Physics, Academy of Sciences of Belarus, 70, F. Skorina Ave., Minsk, 220072, Belarus. Translated
from Zhurnal Prikladnoi Spektroskopii, Vol. 62, No. 2, pp. 137–144, March–April, 1995. 相似文献
105.
本文介绍的是以丙三醇-三乙醇胺-水与基本组份,并添加适量的硫酸铝钾盐,EDTA二钠盐为澄清、沉淀剂的水基型光学玻璃高速精磨冷却液的化学作用,它不仅冷却、清洗和润滑性能好,且具有良好的化学作用;不仅对金刚石磨具的“自锐”性能好,且能保持冷却液和磨具表面清洁,为此,进一步提高了冷却液和磨具的使用性能和使用寿命,以及光学玻璃零件加工的效率和表面质量。 相似文献
106.
107.
108.
为了解决空间激光通信系统中单探测器复合轴结构的粗精解耦难题,通过分析二维关联控制矩阵,得出粗精跟踪解耦的必要条件,提出了一种单探测器复合轴结构的工作方式.在跟踪过程中,相机直接配合子轴执行器完成精跟踪工作,而主轴的跟踪信息由子轴的角度偏转器来提供,同时所有的图像处理算法、位置检测算法、以及粗精伺服控制算法都在现场可编程门阵列中实现,完成了系统的轻小型化设计.实验搭建了测试系统,并对现场可编程门阵列硬件和系统跟踪性能进行测试,结果表明单探测器复合控制系统可以实现跟踪准确度优于3μrad,为工程化奠定了良好的基础. 相似文献
109.
太赫兹时域光谱技术目前逐渐应用于对岩石的研究中。在制备样品时通常需要将岩石磨碎后与粘合剂混合压片,岩石的含量、粒径等都会对测试结果造成影响。将自然界中常见的石英砂粉末(不同粒径)与聚乙烯(PE)微粒以不同的比例混合,通过压片的手段将其制成适用于太赫兹系统测试的样品,用以探究样品中石英砂的含量以及其粒径对实验结果的影响。首先研究石英砂含量对实验结果造成的影响。在保持样品中石英砂的粒径不变的情况下,发现不同石英砂含量样品的时域光谱图中,时间延迟以及峰值都呈现出非单调的变化趋势。为了探究出现这种现象的原因,对样品的折射率以及吸收系数做了进一步的分析。结果表明样品的折射率会随着样品中石英砂含量的增加而逐渐增大,通过适用于本实验的有效介质理论能够解释这一现象。样品对于太赫兹波段的吸收系数随着石英砂含量的增加呈现出先增大后减小的现象,并且在石英砂质量分数为60%时达到最大值。为了解释这一现象产生的原因,利用扫描电子显微镜对样品的微观形貌进行观察,发现随着石英砂含量的增加,在压制样品时PE颗粒破碎程度加剧,导致PE的粒径变小。根据米氏散射以及瑞利散射的原理,石英砂粒径不变而PE粒径减小,随之降低的散射强度与石英砂的吸收效应发生竞争,从而导致了吸收系数先增大后减小的现象。进一步研究了石英砂粒径对实验结果的影响,对不同粒径的石英砂样品进行测试,发现折射率不随石英砂粒径的变化而改变,但其吸收系数随着石英砂粒径的减小而逐渐减小。根据米氏散射,样品吸收系数的变化是由于散射强度随石英砂粒径的减小而逐渐减小。研究表明,样品中石英砂的含量和粒径都会对实验结果产生影响。石英砂粒径相同时,样品的吸收系数随石英砂含量的增加呈现先增大后减小的趋势,样品的折射率随石英砂含量的增加而逐渐增大;石英砂含量相同时,样品的吸收系数随石英砂粒径的减小而逐渐减小,而样品的折射率基本不变。这一结论对矿物样品的制备以及对混合物的实验结果分析有一定程度的指导意义。 相似文献
110.
M. Tauhidul Islam Lachlan J. Tantau Nicholas A. Rae Zwi Barnea Chanh Q. Tran Christopher T. Chantler 《Journal of synchrotron radiation》2014,21(2):413-423
The X‐ray mass attenuation coefficients of silver were measured in the energy range 5–20 keV with an accuracy of 0.01–0.2% on a relative scale down to 5.3 keV, and of 0.09–1.22% on an absolute scale to 5.0 keV. This analysis confirms that with careful choice of foil thickness and careful correction for systematics, especially including harmonic contents at lower energies, the X‐ray attenuation of high‐Z elements can be measured with high accuracy even at low X‐ray energies (<6 keV). This is the first high‐accuracy measurement of X‐ray mass attenuation coefficients of silver in the low energy range, indicating the possibility of obtaining high‐accuracy X‐ray absorption fine structure down to the L1 edge (3.8 keV) of silver. Comparison of results reported here with an earlier data set optimized for higher energies confirms accuracy to within one standard error of each data set collected and analysed using the principles of the X‐ray extended‐range technique (XERT). Comparison with theory shows a slow divergence towards lower energies in this region away from absorption edges. The methodology developed can be used for the XAFS analysis of compounds and solutions to investigate structural features, bonding and coordination chemistry. 相似文献