AlGaAs／GaAs HBT基区电流的研究

在ALGaAs/GaAs HBT E-M模型直流参数的研究基础上,对HBT的基区电流进行了研究,特别是针对BE结空间电荷区的复合电流和基区表面复合电流,因为在HBT的小偏置情况下,HBT的BE结空间电荷区的复合电流和基区表面复合电流在整个基区电流中占有主导地位。当BE结间外加电压为0.5-1.2V时,ALGaAs HBT的基区电流的计算机模拟值和测试值比较接近,这一研究结果有助于进一步了解HBT的直流特性和1/?噪声特性。     

化学活性表面的分形研究

利用近十年来兴起的分形几何学,对固体表面进行了研究,指出固体表面的粗糙程度及不规则性可以用分形维数给予很好的定量描述,并给出了测定化学活性固体表面分形维数的方法。     

具有公共对称面的两个二次回转面的相贯线

本文论述了常见的两个二次回转面轴线相交和平等时,其相贯线在公共对称面（投影面）的投影分别为双曲线和抛物线,只有在特殊情况下是直线,椭圆和圆,并举例说明在计算机上绘图的方法。     

Approximate Degree Reduction of Triangular Bezier Surfaces

ＡｐｐｒｏｘｉｍａｔｅＤｅｇｒｅｅＲｅｄｕｃｔｉｏｎｏｆＴｒｉａｎｇｕｌａｒＢｅｚｉｅｒＳｕｒｆａｃｅｓ＊ＨｕＳｈｉｍｉｎ（胡事民）,ＺｕｏＺｈｅｎｇ（左征）,ＳｕｎＪｉａｇｕａｎｇ（孙家广）ＤｅｐａｒｔｍｅｎｔｏｆＣｏｍｐｕｔｅｒＳｃｉｅｎｃｅａｎ...     

蜗杆式振动珩齿珩磨啮合纹路研究

研究和分析了蜗杆式振动珩齿时,被珩齿轮齿面上的珩磨啮合轨迹,以及在不同珩磨运动参数下,齿面上珩磨啮合纹路的形式。     

用光反射测试方法检测的硅抛光片和外延片表面的图谱

利用检测半导体硅抛光片及硅外延片表面缺陷的光反射法（魔镜法）［1］,观测到了二十余种硅抛光片及硅外延片表面缺陷的图样．本文报道了部份图样．     

超大比表面石油沥青基碳纤维微电极研究

作者研制了一种以石油沥青基碳纤维为电极材料的微电极,基于此种材料的特殊性能,经氧化处理后可获得较一般微电极为大的比表面积,因而其电流响应亦较一般微电极为大。且由于其表面在一定条件下可生成大量的碳氧基团,故其电极电位会随溶液ｐＨ值而线性变化,以至该电极亦可用作测量ｐＨ值的微电极。     

粘胶基碳布电化学氧化表面处理的研究

本文用电化学氧化方法对粘胶基碳布进行表面处理。采用电位滴定法分析测定了氧化处理前后碳纤维表面酸性官能团含量的变化,用水滴铺展方法分析了处理前后碳布润湿性能的变化情况,探讨了酸性官能团含量、织物强力与复合材料层间剪切强度的关系,找出了以Ｈ３ＰＯ４为电解质的最佳电化学氧化表面处理工艺。     

化学法清洗硅片过程中清除颗粒的机理(英文)

对化学法清洗硅片过程中消除颗粒的机理作了定量的探讨。颗粒的清除是由于化学蚀刻和颗粒与表面排斥力共同作用的结果。首次提出了最浅蚀刻深度和最小蚀刻速度的概念。最浅蚀刻深度可通过颗粒与表面间作用能的关系进行计算。是小蚀刻速度则可通过蚀刻侧形进行计算。研究结果对于优化化学法清洗过程和设计高性能清洗液都具有重要意义。     

Atom-probe field ion microscopy

The atom probe field ion microscope (AP-FIM) is a combination of a field ion microscope and a time-of-flight mass spectrometer with a single ion detection sensivity. With the field ion microscope topology of a surface, surface reactions and surface modifications can be studied in atomic detail. By time-of-flight measurements surface layers and interface layers can be chemically analyzed atom by atom and atomic layer by atomic layer. Compositional variations according to surface or interface segregation, precipitations, or surface changes in corrosion or in electrochemical layer formation etc. can be studied quantitatively on a subnanometer scale. Some of our studies on related problems will be decribed briefly.