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横向放大率法确定复合光学系统的基点 总被引：2，自引：0，他引：2
介绍了应用测量横向放大率确定两薄透镜组成的复合光学系统基点的方法。由于采用线阵光电耦合器件（CCD）测量物经光学系统成像的横向放大率，提高了测量精度。 相似文献
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王筑娟 《数学的实践与认识》2006,36(11):217-222
讨论Dx广义正定阵的问题,给出了Dx广义正定阵的一些等价性的刻划,同时还讨论了Dx广义正定阵的若干性质. 相似文献
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矩阵的弱相似性及其应用 总被引：1，自引：0，他引：1
胡付高 《信阳师范学院学报(自然科学版)》2003,16(1):4-6
推广了矩阵环Mn(F)中相似性概念，提出了矩阵的弱相似概念，研究了它的基本性质，获得一些有趣结果，此外，指出了文[3]的一个错误，给出了Laffey-Choi一个关键引理的矩阵式的证明。 相似文献
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