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121.
杨春宝  尤政  王伯雄 《光学技术》2004,30(2):206-208
当用莫尔偏折法测量透镜焦距时,条纹区域随着被测透镜和系统光学参数的不同而变化。针对此情况提出了确定条纹有效区域和选择二值化阈值的方法。该方法根据条纹图像数据的行列极值确定条纹的有效区域。介绍了该方法的实现过程,并分析了在有效区域内根据图像数据的灰度直方图自动选择二值化阈值的原理。给出了依据该方法提取条纹的示意图,以及用莫尔偏折法测量透镜焦距的实验结果。  相似文献   
122.
在阐述叠加莫尔方法测量物体三维形貌基本原理的基础上,导出正弦光栅照射法等高莫尔条纹检测的数学模型。并对实测三维物体的等高莫尔图进行了灰度均匀、图像增强、细化处理等一系列处理,得到了物体等高莫尔条纹的轮廓线。  相似文献   
123.
基于互信息的高动态范围成像系统成像质量分析   总被引:1,自引:1,他引:0  
为了优化高动态范围成像系统的设计,完善地评价系统性能,将信息论应用于高动态范围成像系统中,把高动态范围成像系统看作通信系统,采用端到端的互信息量来评价高动态范围成像系统的成像质量.在COMS采样成像模型的基础上引入空间光调制器反射式硅基液晶的影响,建立了基于互信息的高动态范围成像系统数学模型.利用该模型分析了反射式硅基液晶与CMOS阵列像素数比、像素开口率、相对平移、相对旋转对系统互信息量的影响及造成系统成像质量下降的原因.通过仿真计算,分别得到了像素数比例、像素开口率大小、相对平移量、相对旋转角度与互信息量的相互关系曲线,并定量分析了这些因素变化对系统互信息量的影响程度.仿真结果表明反射式硅基液晶和COMS阵列的最佳匹配条件是:反射式硅基液晶和CMOS像素的占空比尽可能大,CMOS像素尺寸尽可能小,避免相对平移和相对旋转,反射式硅基液晶像素数和CMOS像素数之比为1∶1.  相似文献   
124.
莫尔条纹技术的三维测角方法研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对传统莫尔条纹技术在测量物体偏转角度中不能对多维角度变化进行测量的问题,采用了一种分区间设计的组合光栅方法,并结合光学自准直成像方法构建了一种新的实验系统装置,利用该系统通过测量莫尔条纹的变化实现了对被测量物体偏转角度的三维测量,对合作光学反射镜的偏转角度测量精度优于1”,绕轴转动测量精度优于2”。  相似文献   
125.
针对传统光栅莫尔条纹细分方法的不足,提出了一种基于微处理器的大小数结合细分法进行莫尔信号的细分,将信号进行区间划分来实现辨向。由此设计了以DSP为核心的“DSP MCU“光栅信号处理系统,DSP负责信号的采集和处理,MCU完成系统的总体控制和简单的数据处理,DSP配合MCU完成光栅莫尔信号的采集、放大、滤波、细分、辨向、数据显示和通讯,为光栅副的直线位移和角位移的测量提供了一个通用平台。实验结果表明,光栅的细分精度为3″。  相似文献   
126.
马宏  车英 《应用光学》1997,18(1):24-26
介绍一种应用光学投影放大原理和光栅尺莫尔条纹测长技术的数字显示式光学投影仪,使用此仪器可对直径φ5mm,长度500mm以内的各种形状复杂的轴类或丝杠类零件进行非接触测量。仪器不但可以检测零件局部形状误差,而且可以测量零件的径向尺寸和轴向尺寸,其测量误差均小于0.01mm。  相似文献   
127.
Lau效应在导向(航)信标中的应用   总被引:1,自引:1,他引:0  
刘焕礼 《光学学报》1991,11(8):49-754
本文讨论了莫尔技术和Lua效应在导向(航)信标中的应用。在无穷远处观察到的莫尔条纹其形状不仅指明了应修正的方向,并可定量的给出偏差距离。  相似文献   
128.
廖兆曙  陈志清 《光学学报》1990,10(6):02-507
本文探讨了莫尔偏折术应用的新方法——多光束莫尔偏折术.该法无需测量莫尔条纹偏折角,而是记录条纹对比度最好时试件的位置.文章阐述了其基本原理,并在光栅栅距和光楔楔角测量上进行了实验验证,取得较好的结果.  相似文献   
129.
对于二根形心主惯性轴惯性矩相差较大的非对称截面梁,若其发生斜弯曲,哪怕荷载与截面形心主轴只有较小的偏角,也将对梁的强度、刚度极为不利.本文以角钢为肢件Z形截面格构式檩条的截面设计为例,提出了一种怎样使其发生平面弯曲的截面设计方法。  相似文献   
130.
林万荣 《物理实验》1996,16(5):197-198
用Moire条纹偏转技术测杨氏模量林万荣(华南理工大学广州510641)Moire条纹偏转测量技术是一种简单的光线追迹法,是纯几何光学,故简化了数学处理.Moire条纹偏转技术和干涉度量技术相比,它并不要求知道真正的相位,所以对实验装置的机械稳定性的...  相似文献   
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