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界面应力的正确评价是分析薄膜涂层材料力学特性的难题之一。利用镜像点法和Dirichlet等值性原理,本文推导了等厚双层薄膜涂层材料受表面集中力作用的平面问题理论解。该显式理论解是以固定在各镜像点上的局部坐标系下的Goursat应力函数的形式给出的。对应于高阶镜像点的应力函数,可通过递推的方法,从对应于低阶镜像点的应力函数求得,而且也易于计算机编程。随着镜像点阶数的增大,它与界面的距离也越来越大,因而相对应的应力函数对界面应力的影响越来越小。最后的算例表明,只需考虑前面有限个镜像点,便可获得足够精度的解。该理论解可作为格林函数,以求解复杂问题的理论解,也可用作边界元法的基本解,提高数值计算的精度和效率。 相似文献
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牟文英 《国外科技新书评介》2007,(3):24-24
这本专著是由1999年出版的俄语版《高分子膜的强度和破裂》一书修订和扩充而来的。书中展示了作者在脆性和准脆性断裂的固态高分子方面长期做的理论性和实验研究的结果。作者对各种状况下聚合物断裂的统计学特性进行了综合而详细的研究,包括不同的温度、不同的机械应力、不同表面活性媒质、紫外线和1光照射、化学混合物作用等等各种不同条件下的统计学特性。该研究的关键在于发现了两种主要的强度状态:块体试样的低强度状态和纤维及薄膜的高强度状态。书中详细研究了这两种强度状态下的破裂模型的差别。 相似文献
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采用射频溅射技术沉积Cu/Sn/Zn金属前驱体叠层结合硫化技术在玻璃衬底上成功制备了Cu2ZnSnS4薄膜。X-射线衍射分析表明,通过优化制备条件可以获得单一黝锡矿结构且具有(221)择优取向的Cu2ZnSnS4薄膜。霍尔效应和紫外可见透过谱测量表明,样品的薄膜电阻、吸收系数和光学带隙分别达到0.073Ω·cm,10^4cm^-1和1.53eV,具有适合作为薄膜太阳电池吸收层应用的可能性。 相似文献
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介绍了非晶半导体薄膜的结构特点和在光电器件上的独特性能,给出了薄膜器件的发展水平和制膜技术、制膜设备的研究现状。 相似文献