Studies on Synthesis and properties of Mg-Al-nitrate Layered Ouble Hydroxides

A positive Mg-Al-nitrate layered double hydroxides(LDHs) has been synthesized using a non-steady coprecipitation method.The shape.size,chemical composition,electrical property and anion exchange property of the positve nanoparticle were studied by SEM,XRD,FTIR,chemical analysis,spectroanalysis and meaxsuring of electrophoretic mobilities.Preliminary results show the positive nanoparticle is a promising precursor of polymer/LDHs nanocomposite.     

Compression Behaviour of Ni77P23 Amorphous Alloy up to 30.5 GPa

The compression behaviour of Ni77P23 amorphous alloy is investigated at room temperature in a diamond-anvil cell instrument using in-situ high pressure energy dispersive x-ray diffraction with a synchrotron radiation source. The equation of state is determined by fitting the experimental data according to the Birch-Murnaghan equation. It is found that the structure of Ni77P23 amorphous alloy is stable under pressures up to 30.5 GPa. Within the pressure range from zero to the experimental one, the pressure-induced structural relaxation is reversible.     

辐射加热金X光再发射时间测量

利用星光Ⅱ三倍频激光打双盘靶，研究了辐射加热材料的Ｘ光发射时间。激光脉冲能量４０～６０Ｊ、脉冲宽度６００～７００ｐｓ。通过两台时间关联的亚千Ｘ光能谱仪分别监测双盘靶初、次级发射Ｘ光谱，给出了辐射加热次级Ｘ光再发射时间。     

模拟纳米晶体原子分布及X射线散射理论图案

通过分子动力学方法模拟纳米晶体（1—3nm）的结构．利用模拟的结果，进行了X射线衍射及径向分布函数的模拟计算．结果表明：纳米晶体晶界呈短程有序，界面原子间距分布很宽；随着晶粒尺寸的减小，晶粒的畸变越大，原子体积常数也明显增大 关键词：     

SiC多型体X射线定量分析的Rietveld方法

鉴于ＳｉＣ多型体的主要衍射线完全重叠，用常规Ｘ射线粉末衍射方法确定ＳｉＣ陶瓷材料中多型体含量的分布是非常困难的，提出以Ｘ射线粉末衍射全谱拟合的Ｒｉｅｔｖｌｄ方法进行ＳｉＣ多型体定量分析，阐述了原理及方法，对含３Ｃ，４Ｈ，６Ｈ和１５Ｒ４种多型体衍射数据的定量分析结果表明，Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法可对ＳｉＣ材料中常见多型体的定量分析给出准确的结果，还给出了各自的标准偏差，并估计了该方法对各多型体能给出精确     

双纽线｜W^2＋c｜=1的弧长

设ｓ（ｃ）为双纽线｜Ｗ＾２＋Ｃ｜＝１的弧长，ｃ∈「０，＋∞），该文讨论了ｓ（ｃ）的性质，并在ｎ＝２的情况下解决了Ｅｒｄｏｓ，Ｈｅｒｚｏｇｔ Ｐｉｒａｎｉａｎ提出的一个猜测。     

黑洞的观测证认

介绍了Ｘ射线双星中的黑洞和星系核心的黑洞的观测证认状况．     

Cu基形状记忆合金中析出相的研究

本文利用 X 射线衍射分析、透射电镜等技术,研究了几种热处理制度下 Cu—27.84 Al—3.82 Ni(at%)合金中析出相;用会聚束(CBED)技术测定了析出相与马氏体的取向关系。结果表明:分级处理试样中析出相 r_2是复杂立方结构,晶格参数 a=0.87nm;大量弥散的折出相引起共格应变场,从而使分极处理试样 X 射线衍射峰型宽化;r_2与2H 马氏体的取向关系为;[00]2H‖[001]_r_2,(10)_(2H)‖(300)_r_2。     

横向放大率法确定复合光学系统的基点

介绍了应用测量横向放大率确定两薄透镜组成的复合光学系统基点的方法。由于采用线阵光电耦合器件（CCD）测量物经光学系统成像的横向放大率，提高了测量精度。     

用图解法分析直接耦合放大电路

本文讨论了直接耦合放大电路的图解分析法，使各级工作点之间互相牵扯的直接耦合放大电路做进一步定量分析，得以用较直观而又简便的图解法．它的分析方法也和阻容耦合放大器一样，是以器件的特性曲线为基础，用作图的方法在器件特性曲线上分析放大电路的工作情况．它的特点是能直接反映器件的非线性，进而适用于大信号的分析．