含金属锡铟的导电银厚膜的抗氧化机理研究

通过在导电银电子浆料中添加适量的金属锡铟粉末,得到一种新的抗氧化银浆,并采用丝网印刷技术制备银厚膜.探讨了厚膜在自然时效氧化和硫化氢气氛中硫化氧化的过程及机理,采用扫描电子显微镜(SEM)、能谱(EDS)和X射线衍射(XRD)对银厚膜表面的微观形貌和元素成分进行分析.结果表明,含金属锡铟的银厚膜比纯银厚膜具有更好的抗氧化性.热力学分析表明,添加的金属锡铟与氧气、硫化氢反应的Gibbs自由能比纯银的小,更易在厚膜的晶界/孔洞缺陷处发生氧化反应,延缓银的氧化,从而提高银厚膜抗氧化能力.     

采用Seemann－Bohlin准聚焦X射线衍射仪测量薄膜厚度的误差理论分析

本文从理论上分析了衍射强度比偏差Δ（Ｉ／Ｉ∞）和衍射峰位偏差Δ２θ对Ｓｅｅｍａｎｎ－Ｂｏｈｌｉｎ准聚焦Ｘ射线衍射仪测量表面单层薄膜厚度误差的影响。分析结果表明，降低Δ（Ｉ／Ｉ∞）可提高膜厚的测量精度，在Δ（Ｉ／Ｉ∞）－定的情况下，按μρｔ［Ｓｉｎ（－１）γ＋Ｓｉｎ（－１）（２θ－γ）］＝１选择靶辐射和衍射晶面可使由Δ（Ｉ／Ｉ∞）导致的膜厚测量误差具有极小值；选择高角度衍射线有助于减小试样离焦引起的衍射峰位偏差，亦可降低因衍射角测量偏差导致的膜厚测量误差，当衍射线处于薄膜的法向２θ＝γ＋π／２时，角度项误差（Δｔ／ｔ）（２θ）完全消除。     

脉冲时间分辨光声量热法用于光厚溶液

近年来,用光声量热法(photoacoustic calorimetry,缩写PAC)测量液相体系中的光物理或光化学过程有了较快发展.这对于观测无辐射的瞬态粒子有重要意义。Peters及其同事曾分析过这种光声技术的原理.简言之,脉冲激光被体系吸收后将     

沉积物和原油中常见含氧化合物的分离分析

将沉积物抽提物和原油中复杂的非烃组成分离为酸性、中性I和中性Ⅱ3个馏分。各馏分经GC／MS分析证实羟酸和极性较大的多元醇和酮进入酸性馏分,一元酮、酯和直接一元醇进入中性馏分I,而甾醇类化合物进入中性瘤分Ⅱ。各类化合物分段清晰,没有同一化合物在不同馏分中出现的现象,且分离过程中各化合物的比例基本保持不变。本文选用地质体中今未见析出的二十二烯酸,5α（H）－雄甾－17－酮和5α（H）－3β－醇分别作为各馏分的内标化合物,定量效果好,并首次为甾醇类化合物找到了较理想的内标物。本方法经近百个样品的分离分析证实效果良好。     

无穷方差厚尾过程中非参数函数的小波估计

研究无穷方差厚尾过程中含有变点的非参数函数的估计问题。通过小波方法给出变点位置的估计值并得到其收敛速度。在已知变点估计值的基础上,将截尾方法与小波压缩方法相结合得到非参数函数的估计值。模拟研究结果说明对于无穷方差厚尾过程中的函数估计问题小波方法是有效的。     

R-T冰情检测传感器在黑龙江漠河河道冬季现场冰情连续自动观测中的应用

介绍"基于空气、冰与水的等效电阻值差异的冰情检测原理",以及基于这一原理设计的"R-T冰雪情自动检测传感器"及其冰雪情观测系统结构.2013.12—2014.4采用该传感器成功地在中国北方最高纬度地区黑龙江省漠河县北极村河道进行了冰雪情现场连续定点观测,并对现场获取的系统采集数据进行了分析.     

对数收益率的偏斜Logistic分布与VaR估计

本文通过直方图和Q-Q图的直观方法展示了上证指数和深证指数的对数收益率具有尖峰厚尾和偏斜的分布特征,利用Shapiro-Wilk正态性检验和Kolmogorov-Smirnov检验等方法检验了对数收益率的分布与正态分布有显著性差异,并以较大的概率水平接受了对数收益率服从偏斜Logistic分布,同时给出了基于偏斜Logistic分布的VaR风险量的估计,结果显示上证指数的风险小于深证指数的风险。     

合成狭缝彩虹全息图特性研究

研究了合成狭缝彩虹全息图的衍射效率、分辨本邻和单色性。给出了其衍射效率与合成狭窄宽度之间的关系，证明了其分辨本领和单色性都低于一般彩虹全息图。     

证券回报序列的统计分析

稳定分布已被广泛应用于金融研究中，本文采用基于稳定分布特征函数的参数估计方法来对上海交易所的综合股指的分布作了拟台研究，并给出了一些相应的计算技巧，研究表明稳定分布能反映金融数据的尖峰厚尾性。而它又具有正态分布的良好统计性质。可以很好地描述金融市场的实际行为。是很适合运用到一些要求有精确分布的分析技术上去，如风险监管技术、投资组合理论等。     

表面力仪的改进及超薄膜流变特性的实验研究

在对原表面力仪进行较大改进的基础上 ,以 5 0 0 SN基础油和十六烷为研究对象 ,进行了超薄膜流变特性的实验研究 .结果表明 :在超薄膜润滑条件下 ,5 0 0 SN和十六烷均表现出明显的非牛顿剪切响应 ,即剪切稀释现象 ;摩擦力幅值随剪切速度的增大急剧上升到最大值 ,然后下降至某一固定值附近并产生波动 ;剪切挤压下的临界膜厚小于静态挤压的临界膜厚 ,剪切运动对吸附层有序结构产生破坏作用