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1.
介绍了用蒙特卡罗方法研究正常对撞模式下束流本底中的束流-气体相互作用的原理与效果.使用通用的模拟工具,研究了BEPCⅡ的束流-气体本底对设计中的BESⅢ的影响.结果显示,在储存环上设置挡板后,探测器的本底在允许的范围之内.模拟结果对BEPCⅡ-BESⅢ的设计建造具有指导意义.  相似文献   
2.
对高能闪光机光源性能用Monte-Carlo方法模拟研究发现:并非击靶电子束半径越小、发射度越低, 闪光机的照相性能就会越好. 研究结果表明:为了使闪光照相图像视面上照射量分布比较均匀, 对束半径与电子束归一发射度有一个联合限制, 对于20MeV闪光机, 如果击靶电子束有效半径是0.12cm, 那么仅当束归一发射度≥550cm.mrad时,在2°内的照射量不均匀性才小于5%.  相似文献   
3.
含有不同惰性气体的气泡的声致发光的阈值声压   总被引:2,自引:0,他引:2  
气泡内的气体成分对声致发光阈值有很大影响. 通过对不同气体成分气泡的声致发光阈值的研究, 揭示了声致发光的机制. 实验结果表明, 随着惰性气体原子质量的依次降低, 声致发光的阈值声压逐渐增加, 结合实验所得的不同惰性气体对应的阈值声压, 对气泡内产生的温度进行数值模拟, 发现不同惰性气体的气泡对应的阈值温度相等, 而当声致发光很强情况下, 气泡的发光满足轫致辐射机制. 由实验和数值模拟的结果可以推测, 在超声空化过程中, 气泡内的水分子首先裂解并放出光子, 随着温度的升高, 惰性气体被电离, 产生轫致辐射. 气泡的发光是一个由分子辐射向轫致辐射的变化过程.  相似文献   
4.
叙述了在闪光Ⅰ上用6MV轫致辐射实验标定快响应GaAs光电探测器的原理实验结果以及分析讨论。  相似文献   
5.
肖珺  王恩科 《中国物理 C》2001,25(8):772-779
用有限温度场论方法,通过计算费曼图分析了在QED中由于温度效应导致的新红外发散.结果表明零温场论中的红外发散和由温度效应引起的红外发散可以用描写虚过程的费曼图同时消除.计算了轫致辐射中光子的辐射几率,在Eikonal近似下所得到的结果和半经典近似给出的结果一致.  相似文献   
6.
 利用能量约450 keV、焦斑直径1~4 mm的低能X光对神龙一号直线感应加速器束靶作用后钽靶的破坏进行诊断,利用增强型电荷耦合器件(ICCD)对诊断过程记录,得到束靶作用后数μs时间内钽靶材料密度的变化。结果表明:在束靶作用后约1 μs内靶材料密度基本没有变化,且该时间段内ICCD相机没有观察到有靶前钽靶材料的微粒喷射。  相似文献   
7.
8.
磁约束等离子体中杂质(特别是高Z杂质)的存在将大大增强等离子体辐射功率损失,破坏等离子体的约束性能。杂质行为的定量研究首先要求对杂质测量的光谱诊断系统进行绝对强度标定,获得灵敏度响应曲线。介绍了EAST托卡马克上的快速极紫外光谱仪系统绝对强度的原位标定方法。在波长范围20~150Å内,通过对比极紫外(EUV)波段连续轫致辐射强度的计算值和测量值得到光谱仪的绝对强度标定。在此过程中,首先由(523±1) nm范围内可见连续轫致辐射强度的绝对测量值计算出有效电荷数Zeff,进而结合电子温度和密度分布计算EUV波段连续轫致辐射强度;EUV波段连续轫致辐射强度的测量值即为不同波长处探测器的连续本底计数扣除背景噪声计数值。对于较长波段范围130~280Å,通过对比等离子体中类锂杂质离子(Fe23+,Cr21+,Ar15+)和类钠杂质离子(Mo31+,Fe15+)发出的共振谱线对(跃迁分别为1s22s 2S1/2-1s22p 2P1/2, 3/2及2p63s 2S1/2-2p63p 2P1/2, 3/2)强度比的理论和实验值进行相对强度标定。其中共振谱线对强度比的理论值由辐射碰撞模型计算得到,模型中处在各个能级的离子数主要由电子碰撞激发,去激发以及辐射衰变三个过程决定。两种方法相结合,实现了光谱仪20~280Å范围的绝对强度标定。考虑轫致辐射、电子温度及电子密度的测量误差,绝对标定误差约为30%。在绝对标定的基础上,我们对杂质特征谱线强度进行绝对测量,并将测量结果与杂质输运程序结合ADAS(Atomic Data and Analysis Structure)原子数据库计算得到的模拟值进行比较,进而估算等离子体中的杂质浓度。  相似文献   
9.
利用数值模拟方法,设计了"神龙一号"直线感应加速器的轫致辐射靶的靶材及结构。实验测量了钽叠靶所产生的X光照射量和X光焦斑,得到转换靶正前方1m处的X光照射量在0.103C/kg以上,产生的X光焦斑小于1.5mm,满足"神龙一号"轫致辐射靶的设计要求。  相似文献   
10.
一、引言 多年来,从事受控核聚变的研究人员相继对环形磁约束装置的硬X射线辐射做了许多深入的实验研究,因为逃逸电子是高温等离子体的必然产物,通过逃逸电子产物——硬X射线的研究,便可得知等离子体的行为。但是,装置的硬X射线辐射剂量却直接影响到周围环境及工作人员的身体健康。高能X射线通过物质时,主要以光电效应,康普顿散射和电子对效应损失能量,进入生物组织后,X射线能量在其中转移、吸收乃至最终导致组织损伤。随着实验的进展,人们对硬X射线辐射剂量日益关心。为此,1987年,我们在HL-1装置实验运行期间(近旁的电子回旋共振加热系统未投入工作),测量了装置的硬X射线辐射剂量。  相似文献   
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