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71.
A promising way to control underpad chip damage in IC packaging caused by wire bonding forces would be to use new wire chemistries that produce softer free-air balls (FABs). The number of new wire types that can be tested is limited by the available resources. The conventional FAB hardness characterization method is the microindentation test, a labour intensive and off-line task requiring cross-sectioning of a large number of samples. To accelerate FAB hardness characterization, an innovative on-line method is studied and presented here, enabling the fast comparison of different wire types. Collection of data from an instrumented wire bonder allows comparison of the deformability, i.e. the average amount of FAB deformation under a defined load. Increased deformability implies a softer FAB. The influences have been studied of changes in capillary, bonding substrate metallization and substrate temperature on the results obtained. It is found that these influences need to be held constant during a comparison study. 相似文献
72.
Q.G. Meng H.Y. Fang J.G. Yang S.D. Ji 《Theoretical and Applied Fracture Mechanics》2005,44(2):178-186
By analyzing the shape of twin wire welding’s arcs and the track of droplets’ transition, the phenomenon that the twin wire welding’s fore arc and rear arc all deflect to the middle of the two arcs is found. Based on this the double ellipsoid heat source model is amended, and a heat source model which can apply to calculate the twin wire welding’s temperature field is put forward. This model is testified by actual experiment of temperature sampling. By comparing the temperature field of twin wire welding and single wire welding, the results show that twin wire welding has slender weld pool the end part of which is ellipsoid, and its HAZ is narrower than that of single wire welding. So, twin wire welding can not only reduce the Al alloy generating hot crack, but can also weaken the “overaging” softened phenomenon of heat treated strengthening Al alloy. In the end, the evolving rules of 2219 Al alloy’s longitudinal and transverse stress when welded with twin wire welding are analyzed. 相似文献
73.
赵燕 《电气电子教学学报》2010,32(4):79-80
印制板的接地方式非常重要,如果地线布线不合理,就可能引起不可接受的测量误差。本文通过一个典型的热电偶数字测温系统的地线连接的分析,来说明PCB中地线正确连接的重要性和接地原则。文章说明了在模拟和数字信号混合系统中连接PCB地线时,应该防止有较大的地电流,特别是应防止数字电路中大的脉冲地电流流入模拟电路的地线中,尤其不应流入小信号模拟电路的地线中。 相似文献
74.
目前,在半导体闪存多芯片的金线键合工艺中,为满足堆叠芯片不断增加等结构需要,键合线弧要求更低、更长,制造工艺变得相对更加复杂。针对生产过程中常遇到的塌线问题,通过对金线键合工艺中线弧形成动作的过程分析,以金线弹动现象为线索,探究了生产过程中塌线问题产生的原因,并给出了相应解决方案。经过此研究,长线键合的生产工艺能力得到加强,其成果对新封装产品的研发及基板设计具有有益的参考价值。 相似文献
75.
76.
在集成电路封装的质量控制中,键合拉力的地位非常重要。作为键合质量好坏的主要判定基准之一,影响键合拉力的因素有很多,包括键合工艺参数、焊线材料类型、拉力测试吊钩的测试位置、焊线线径以及线弧的长度和高度等。主要讨论在键合线弧投影长度不变的情况下,线弧高度的变化对键合拉力产生的影响。通过对不同线弧高度条件下测得的拉力数据进行整理分析,结果表明:键合线弧越高,拉力就越大;反之,拉力则越小。这为集成电路组装的正常量产过程中,工程技术人员对于键合线弧整体高度的合理有效控制及键合拉力规范的合理定义提供了参考依据。 相似文献
77.
78.
79.
半导体封装行业中铜线键合工艺的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
文章介绍了半导体封装行业中铜线键合工艺下,各材料及工艺参数(如框架、劈刀、设备参数、芯片铝层与铜材的匹配选择)对键合质量的影响,并总结提出如何更好地使用铜线这一新材料的规范要求。应用表明芯片铝层厚度应选择在0.025mm以上;劈刀应使用表面较粗糙的;铜线在键合工艺中使用体积比为95:5的氢、氮气混合保护气体;引线框架镀银层厚度应控制在0.03mm~0.06mm。 相似文献
80.
A novel solid-phase microextraction fiber based on a stainless steel wire coated with Au nanoparticles was prepared and has been applied, coupled with gas chromatography, to the extraction of aromatic hydrophobic organic chemical pollutants in rainwater and soil extract. The solid-phase microextraction fiber exhibited excellent extraction efficiency and selectivity. Effects of extraction time, extraction temperature, ionic strength, stirring rate and desorption conditions were investigated and optimized. Single fiber repeatability and fiber-to-fiber reproducibility were less than 7.90% and 26.40%, respectively. The calibration curves were linear in a wide range for all analytes. Correlation coefficients ranged from 0.9941 to 0.9993. The as-established SPME-GC method was used successfully to two real natural samples. Recovery of analytes spiked at 10 μg L(-1) and 100 μg L(-1) ranged from 78.4% to 119.9% and the relative standard deviations were less than 11.3%. 相似文献