一种二元域上的快速计算哈希函数

论文从映射的角度,将哈希函数分为三类:严格哈希函数、计算哈希函数和实用哈希函数。在此基础上,根据二元域上二次方程x2 x c=0的部分不可解的性质,构造了一种计算哈希函数,它满足单向性和一一对应性,同时具有运算速度快的优点。     

CSTN-LCD用铬版清洗效果的改善

利用铬版清洗机对CSTN-LCD用铬版进行清洗处理,分析了清洗过程中出现的铬层脱落现象,铬层脱落与轴向喷射压力和水平切力密切相关,通过调整转速和喷射压力探索了安全使用条件:在转速不超过1000r/min,喷射压力低于0.5×105Pa的情况下使用铬版清洗机进行清洗是相对安全的。同时采用预清洗处理的方法满足清洁要求,使换线时间由平均3h缩短到平均1h以内,年产能提高270000片。     

一个基于相邻像素兼容度的模糊加权平均滤波器

在文献[1]的基础上，提出几个改进的模糊加权平均滤波器。本文的方案不仅同时考虑了相邻像素对中心像素的兼容性以及中心像素对相邻像素的兼容性，而且还考虑到了权系数对局部环境的适应性。实验结果表明，该方法相比文献[1]中的模糊加权平均滤波器以及标准的均值滤波器、中值滤波器在噪声消除与边缘保留方面具有更好的性能。     

Quality of Service in VoIP Communication

The focus of this paper lies in the practical aspects of voice over IP communication. VoIP configurations in the H.323 standard will be presented briefly. Following that, the fundamental protocol procedure of H.323 communication will be briefly explained. A further part of the paper will address the subject QoS (quality of service), and present the common measurement methods used in QoS. Results gained from experiments conducted in a VoIP environment will then follow. The investigations concentrate primarily on the load behavior of voice packets in relation to important parameters of this service. The results obtained are presented and evaluated in diagrams. The paper concludes with a summary.     

理想九点五态控制器原理的叙述

用计算的方式叙述理想九点五态控制器的控制原理。为便于人们理解二阶对象的运动中控制的变化过程,将抽象的对象转换为人们熟知的L-R-C电路,通过调节输入电压(即控制作用)的大小和方向来实现对对象性能的调节,并使系统达到理想的性能指标。最后用仿真来验证计算结果的正确性。     

变换域数字水印处理技术

数字水印是信息安全领域的一项新技术,给出了相对明确的定义。着重分析了变换域数字水印系统的特征及常见攻击,给出了一些相应的对策。最后指出变换域水印的重要问题,即频率的选择问题。     

分组密码算法芯片验证

介绍了分组密码算法芯片验证的流程、内容和方法,详细介绍了分组密码算法芯片的验证技术——测试基准。     

一类Feistel密码的线性分析

该文提出一种新的求取分组密码线性偏差上界的方法，特别适用于密钥线性作用的Feistel密码．该分析方法的思路是，首先对密码体制线性偏差进行严格的数学描述，分别给出密码线性偏差与轮函数F及S盒的线性偏差的数学关系；然后通过求取线性方程组最小重量解，确定密码线性偏差的上界．     

自动交换光网络控制平面功能结构的探讨

文章主要讨论了自动交换光网络(ASON)控制平面的两种不同结构：控制平面在网元外部的结构和控制平面部分集成在网元内部的结构，并对这两种结构进行了比较．     

Signal Integrity: Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs

As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis.