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991.
992.
In this paper, an integrated probe card is proposed and developed for wafer-level IC testing. Based on micromachining technology, totally about 26,000 cantilever-tip probes can be formed simultaneously in one 4-in. silicon wafer, with the minimum pitch of 35 μm for adjacent probing tips. The probe card is designed with a novel composite structure that combines both single-crystalline silicon and electroplated metals. In the composite structure, a novel bypass through-silicon-via with a low aspect ratio can be high-yield fabricated for transferring the testing signals from the probing sided (at the wafer bottom side) to the I/O interface (at the front side). The probe card makes full use of the advantages of the single-crystal silicon and the electroplated nickel and copper. Bulk micromachined silicon cantilevers behave uniform probing height and a good elastic deformation property, while the electroplated nickel probing tips promise high hardness and satisfactory electric contact performance with the dies-under-test (DUT). Measurements show that the fabricated cantilever is able to withstand a contact force of 80mN by a tip displacement of 20 μm. The measured contact resistances on metal pads (Al, Cu, and Au) are all below 1 Ω, whereas the maximum current leakage is 64 pA for 3.3 V voltage across two adjacent tips. After a probing reliability test of 100,000 cycles, the cantilever-tip shows no sign of any performance degradation. 相似文献
993.
994.
软件可靠性是基于执行时间或自然时间的度量,很少文献讨论软件可靠性测试与测试过程的关系,特别是测试效率与测试用例的定量关系。文章在基于J—M模型应用方法的基础上,考虑到可靠性测试过程产生的数据与可靠性度量的关系,提出对J—M模型进行补充假设,使得J—M模型的应用方法适应于测试过程,建立软件可靠性与测试用例的定量关系,从而实现对软件可靠性度量以及对测试效率的评价。 相似文献
995.
为了保持同步发电机的端电压稳定,需要根据负载的大小及负载的性质调节同步发电机的励磁电流,因此,研究同步发电机的励磁控制具有十分重要的应用价值。本文以ARM9嵌入式微处理器S3C2410X为核心,简要介绍核心构件的功能特点,给出了硬件实现的总体框架图。系统采用模块化的设计原理,对同步发电机励磁控制器的硬件及软件组成进行详细的分析,阐述了各个主要模块的工作原理,设计思想。开发了一个集嵌入式控制、高速数据采集与处理、友好人机交互界面于一体的监控系统架构。 相似文献
996.
引信电源性能测量电路设计 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了一种存储测试系统,该系统可以对处于高冲击和高速旋转恶劣环境中的引信电源的一些重要参数进行测量。电路采用单片机和CPLD联合控制的方法,充分利用了CPLD的高速和MCU控制灵活的特点,实现了数据采集和Flash存储器的读、写、擦除操作,以及与上位机通信的控制,从而实现微体积、微功耗、大容量的存储测试系统设计。分析了在闪存中构造负延迟存储空间的方法,以及AD校准的方法。整个系统经过实测在恶劣的环境中能够稳定的工作,达到了设计的目的,系统同样可以用于测试一般的化学电池。 相似文献
997.
由于不同测试系统上测试资源的差异,即便是对同一个被测器件的测试程序也不相同。将测试程序从一种测试系统移植到另一个系统上,可以避免测试重复开发,缩短产品开发周期,提高测试效率和灵活性。J750是目前国内装机量较大的进口测试系统,BC3192是国产的新型测试系统,本文介绍了一种测试程序从J750到BC3192转换的方法,用IC卡测试程序做实验,证明该方法是可行的。 相似文献
998.
999.
1000.