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B. V. Korzoun L. A. Makovetskaya V. A. Savchuk V. A. Rubtsov G. P. Popelnyuk A. P. Chernyakova 《Journal of Electronic Materials》1995,24(7):903-906
Twenty alloys of various compositions in the Cu2Se-Al2Se3 system were prepared and investigated. The T(x) phase diagram of the Cu2Se-Al2Se3 system was obtained from x-ray diffraction, differential thermal analysis, and microstructure investigation for the first
time. The homogeneity region of the CuAlSe2 semiconducting compound was established.
Previous articles by this author were presented with the spelling of his name as B.V. Korzun. 相似文献
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K. M. A. Salam Hidekazu Konishi Masahiro Mizuno Hisashi Fukuda Shigeru Nomura 《Applied Surface Science》2002,190(1-4):88-95
Polycrystalline (1−x)Ta2O5−xTiO2 thin films were formed on Si by metalorganic decomposition (MOD) and annealed at various temperatures. As-deposited films were in the amorphous state and were completely transformed to crystalline after annealing above 600 °C. During crystallization, a thin interfacial SiO2 layer was formed at the (1−x)Ta2O5−xTiO2/Si interface. Thin films with 0.92Ta2O5–0.08TiO2 composition exhibited superior insulating properties. The measured dielectric constant and dissipation factor at 1 MHz were 9 and 0.015, respectively, for films annealed at 900 °C. The interface trap density was 2.5×1011 cm−2 eV−1, and flatband voltage was −0.38 V. A charge storage density of 22.8 fC/μm2 was obtained at an applied electric field of 3 MV/cm. The leakage current density was lower than 4×10−9 A/cm2 up to an applied electric field of 6 MV/cm. 相似文献
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本文报道在国内首次采用离子束铣技术研制自集成透镜InGaAsP/InP DH LED的实验结果。采用烘烤正性光致抗蚀剂来形成球状掩膜适合于离子束铣,且重复性很好。为了获得光洁的刻蚀表面,刻蚀条件均已最优化。 相似文献