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111.
采用溶胶-凝胶法制备锂离子电池正极材料Li3V2(PO4)3/C.通过恒电流充放电测试、循环伏安(CV)、电化学阻抗谱(EIS)等方法,研究了Li3V2(PO4)3/C在不同电压区间的电化学行为(3.0-4.5 V和3.0-4.8 V).结果表明,3.0-4.8 V电压区间的循环性能和倍率性能均不及3.0-4.5 V电压区间的.3.0-4.5 V区间0.1C (1C=150 mA?g-1)倍率首次放电比容量为127.0 mAh?g-1,循环50次后容量保持率为99.5%,而3.0-4.8 V区间的分别为168.2 mAh?g-1和78.5%.经过高倍率测试后再回到0.1C倍率充放电,3.0-4.5 V和3.0-4.8 V的放电比容量分别为初始0.1C倍率的99.0%和80.7%.经过3.0-4.8 V电压区间测试后,少部分第三个锂离子能够在低于4.5 V的电压脱出,使3.0-4.5 V电压区间的放电比容量提升了7.4%. CV结果表明3.0-4.8 V区间的容量损失主要表现为第一个锂离子的不可逆损失.极片的X射线衍射(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)分析测试结果表明经过3.0-4.8 V测试后, Li3V2(PO4)3的结构发生了轻微的改变.电感耦合等离子体(ICP)测试结果表明循环后的电解液中含有少量的V.结构变形和V溶解可能是Li3V2(PO4)3在3.0-4.8 V区间容量衰减的主要原因. 相似文献
112.
The development of a user-friendly reusable laboratory equipment for the delivery of sensitive reagents and catalysts is described. The tightness of these Teflon Magnetic Stirring Capsules (TMSC) is ensured by the magnetic force and release of the reagent inside the solution is triggered by adjusting the stirring rate so that the centrifuge force exceeds the magnetic force. They can be loaded with several chemicals at the same time and do operate across a broad range of temperatures. The inertness of Teflon facilitates reaction purification. 相似文献
113.
114.
115.
环上的广义导子与Von Neumann代数上的P-核值保持映射 总被引:4,自引:0,他引:4
设A是B(H)的子代数,ψ是A到A的线性映射,且对A中的每个正交投影算子p,有ψ(p)(kerp)ranp,则称ψ是A到A的P-核值保持映射,本文主要得到如下结果:每个2-非绕的半素环上的广义Jordan导子都是广义导子;每个VonNeumann代数上的范数拓扑连续的P-核值保持映射是广义内导子. 相似文献
116.
117.
Nest代数上的在零点广义可导映射 总被引:4,自引:0,他引:4
设A为B(H)的子代数, 是A到B(H)的线性映射,我们说 在0点广义可导(广义双边可导),如果对任意的S,T∈A且ST=0(ST=0或TS=0),有 (ST)= (S)T+S (T)-S (I)T.本文主要得到如下结果:(1)有限Nest代数上的每个范数拓扑连续的在0点广义可导的线性映射是广义内导子;(2)若N是完备Nest且H_ H,则algN上的每个范数拓扑连续的在0点广义双边可导的线性映射是广义内导子. 相似文献
118.
119.
一种基于Retinex理论的图像增强算法 总被引:3,自引:0,他引:3
提出了一种基于Retinex理论的图像增强算法。Retinex理论的实质就是从图像S中抛开照射光L的影响来获得物体的反射性质R,即获得物体本来的面貌。在对Retinex理论进行研究的基础上,论述了该算法的原理和实现方法,并通过实验与几种传统的图像增强方法以及单尺度、多尺度和带彩色恢复的多尺度Retinex进行了比较,表明该算法对于图像阴影细节的增强和色彩的保真较一般的图像增强算法能够达到更好的效果。 相似文献
120.
介绍了一个单反射面柱形紧缩场暗室,分析了柱面紧缩场的工作原理,其原理是采用一维算法将柱面波转换为平面波.整体暗室以紧缩场为基础,通过综合和优化选型,从暗室、吸波材料、紧缩场设备等多个方面配合设计,达到了较好的综合效果,具有很高的测试性能,可用于高精度的天线测量和雷达散射截面测量. 相似文献