全文获取类型
收费全文 | 9617篇 |
免费 | 1089篇 |
国内免费 | 275篇 |
专业分类
化学 | 1714篇 |
晶体学 | 30篇 |
力学 | 251篇 |
综合类 | 173篇 |
数学 | 1627篇 |
物理学 | 1872篇 |
无线电 | 5314篇 |
出版年
2024年 | 33篇 |
2023年 | 120篇 |
2022年 | 383篇 |
2021年 | 381篇 |
2020年 | 333篇 |
2019年 | 233篇 |
2018年 | 221篇 |
2017年 | 390篇 |
2016年 | 450篇 |
2015年 | 371篇 |
2014年 | 737篇 |
2013年 | 607篇 |
2012年 | 657篇 |
2011年 | 704篇 |
2010年 | 467篇 |
2009年 | 519篇 |
2008年 | 554篇 |
2007年 | 559篇 |
2006年 | 521篇 |
2005年 | 511篇 |
2004年 | 395篇 |
2003年 | 326篇 |
2002年 | 267篇 |
2001年 | 235篇 |
2000年 | 152篇 |
1999年 | 150篇 |
1998年 | 115篇 |
1997年 | 100篇 |
1996年 | 111篇 |
1995年 | 75篇 |
1994年 | 55篇 |
1993年 | 52篇 |
1992年 | 33篇 |
1991年 | 26篇 |
1990年 | 19篇 |
1989年 | 17篇 |
1988年 | 14篇 |
1987年 | 21篇 |
1986年 | 6篇 |
1985年 | 10篇 |
1984年 | 6篇 |
1983年 | 4篇 |
1982年 | 5篇 |
1981年 | 11篇 |
1980年 | 5篇 |
1979年 | 7篇 |
1978年 | 3篇 |
1977年 | 2篇 |
1971年 | 2篇 |
1959年 | 2篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
李宗亮 《电子产品可靠性与环境试验》2002,(2):39-42
介绍了可靠性设计过程涉及的质量控制成本的解决方法,通过对最有可能影响可靠性的电路设计、元器件选用等方面的分析,介绍了在降低可靠性设计成本的基础下更好地解决可靠性问题的一些方法。 相似文献
2.
This research extends previous work with dynamic models to manage groundwater quality by using the consumptive nitrate use rate instead of the nitrate application rate. The analysis indicates that misspecification results in overestimation of economic benefits, and supra-optimum nitrogen fertilizer application rates and groundwater nitrate stocks at a steady state. 相似文献
3.
高明莉 《电子产品可靠性与环境试验》2007,25(3):38-41
从人员质量意识、产品设计质量、原材料/元器件的控制、人员操作质量、产品评审力度等方面,分析质量管理工作中存在的难点,并提出相应的解决措施. 相似文献
4.
小功率行波管可靠性数字仿真的研究 总被引:1,自引:1,他引:0
基于对实际器件的测试数据,采用模糊数学和最可能故障法建立整个器件的可靠性模型.引入可靠性分布密度函数,将实际测试得到的离散数据拟合成随时间变化的连续函数,不仅可得到小功率行波管测试性能的评估,而且还可以对其可靠性进行预测;进一步研究,还可以给出预测的准确度概率.本文主要讨论小功率行波管可靠度评估模型的建立、数据处理与精度分析等,并对预测与准确度的概率给予简要的介绍. 相似文献
5.
K. Khalil J. C. Hand M. Mariswamy M. S. Obaidat 《International Journal of Communication Systems》1995,8(2):117-127
Since computer networks play an important role in distributed computing environments, an application's performance depends heavily on the quality of service provided by the communication networks. To ensure a high performance, the characteristics of wide area networks, WANs, must be well understood. This paper presents methodologies to characterize WAN traffic based on real measurements from Bellcore's backbone network that connects remote sites using dedicated T1 links. This paper also suggests some workload models that can be used for wide area network sizing and performance evaluation studies. It is found that the inter-site traffic pattern depends on the time of the day and the day of the week. Furthermore, the traffic between two sites is found to be reasonably symmetric, except for those sites designated as back-up sites. The coefficient of variation is used as a measure for the traffic burstiness and it is found to be 1·5 degree during working hours. The methods presented here are easy to use and cost-effective. 相似文献
6.
本文介绍了可在微机上实现大规模电信网践模拟的实用化软件SIMUNET,及基所采用的无时钟事件追踪法。该软件可用规划中的电信网络和实际网路的模拟及性能评价,也可用于不同流量控制算法的评价。文中给出一个评价实例。 相似文献
7.
红外热成象技术可以有效地用于股骨头坏死疾病的诊断和针刺治疗效果的评价,效果优于其它常规方法。 相似文献
8.
教学质量的时齐马尔可夫链评估法 总被引:1,自引:0,他引:1
本文研究了教学质量评估中的一种定量分析方法──时齐马尔可夫链评估法.阐明了这种方法的理论依据及其实施程序、并指出它较之其他教学质量评估法更显合理. 相似文献
9.
在3G(第3代移动通信系统)中,为了给不同类型的业务提供不同级别的端到端QoS,网络资源必须进行合理分配。QoS和资源分配是密不可分的,而无线资源分配显得尤为重要。文中提出了UMTS的QoS结构,分3部分对空中接口部分的QoS(即无线资源分配策略问题)进行了讨论:首先提出了一种RRA算法,接着讨论了W-CDMA和TD-CDMA系统的无线资源分配问题,最后讨论了下行链路及上行链路的呼叫允许控制(CAC)。 相似文献
10.
When a circuit is tested using random or pseudorandom patterns, it is essential to determine the amount of time (test length) required to test it adequately. We present a methodology for predicting different statistics of random pattern test length. While earlier methods allowed estimation only of upper bounds of test length and only for exhaustive fault coverage, the technique presented here is capable of providing estimates of all statistics of interest (including expected value and variance) for all coverage specifications.Our methodology is based on sampling models developed for fault coverage estimation [1]. Test length is viewed as awaiting time on fault coverage. Based on this relation we derive the distribution of test length as a function of fault coverage. Methods of approximating expected value and variance of test length are presented. Accuracy of these approximations can be controlled by the user. A practical technique for predicting expected test length is developed. This technique is based on clustering faults into equal detectability subsets. A simple and effective algorithm for fault clustering is also presented. The sampling model is applied to each cluster independently and the results are then aggregated to yield test lengths for the whole circuit. Results of experiments with several circuits (both ISCAS '85 benchmarks and other practical circuits) are also provided.This work was done while the author was with the Department of Electrical Engineering, Southern Illinois University, Carbondale, IL 62901. 相似文献