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P. G. Muzykov Y. I. Khlebnikov S. V. Regula Y. Gao T. S. Sudarshan 《Journal of Electronic Materials》2003,32(6):505-510
To establish fast, nondestructive, and inexpensive methods for resistivity measurements of SiC wafers, different resistivity-measurement
techniques were tested for characterization of semi-insulating SiC wafers, namely, the four-point probe method with removable
graphite contacts, the van der Pauw method with annealed metal and diffused contacts, the current-voltage (I-V) technique,
and the contactless resistivity-measurement method. Comparison of different techniques is presented. The resistivity values
of the semi-insulating SiC wafer measured using different techniques agree fairly well. As a result, application of removable
graphite contacts is proposed for fast and nondestructive resistivity measurement of SiC wafers using the four-point probe
method. High-temperature van der Pauw and room-temperature Hall characterization for the tested semi-insulating SiC wafer
was also obtained and reported in this work. 相似文献
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通过比较各种软件无线电结构的优缺点,针对既具有交换网络结构又具有分层结构优点的基于交换网络的分层无线电结构方案,提出了部分改进思想。 相似文献
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在实际应用中常常需要将人像从照片的背景中有效地分割出来,通常的做法是通过提取照片中人像各部分特征来实现分割,其缺陷是计算复杂度较大,分割效果受各种干扰因素影响很大。现提出了一种基于主体外部轮廓信息的照片分割算法,通过梯度锐化、边缘保护、临近像素点相似度比较来确定图像的边界,该算法对于具有相对均匀背景的照片具有较高的计算效率。 相似文献
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在数据采集中采用带通采样,可大大降低采样率,但系统中的抗混叠滤波器会造成相位的非线性。采用对滤波后的信号进行带通采样,然后再用FRR滤波器校正相位的非线性,从而不失真地还原原信号,最后在Matlab中进行仿真,验证了该方法的有效性。 相似文献