高速RS(204,188)译码器的FPGA实现

介绍了数字电视广播中广泛采用的RS(204,188)译码器原理和FPGA实现方案,采用并行的三级流水线结构以提高速度,并根据Berlekamp-Massey(BM)算法对译码器进行了优化设计,减少了硬件消耗.译码器的最大时钟频率可以达到75MHz.译码器的性能仿真和FPGA实现验证了该方案的可行性.     

基于DVD应用的流水线RS-PC解码的VLSI设计

基于DVD数据纠错的应用，设计实现了全程流水线处理的RS-PC解码，采用分解的无逆BM(Berlekamp—Massey)算法和脉动时序控制实现RS解码器的三级流水线处理，采用行列独立的缓冲器和纠错解码器实现行列纠错的两级流水线处理。该RS-PC解码能达到非常快的处理速度，在行列纠错处理无迭代的情况下，数据率可达到每时钟一个字节。     

深亚微米nMOSFET器件的总剂量电离辐射效应

选取了采用0.25μm工艺的两组器件进行研究.通过对这两种器件关态泄漏电流、跨导和栅电流等电学参数进行分析,得出当器件发展到深亚微米阶段时,影响其辐射效应的主要原因是场氧化层中的陷阱电荷.并对相关机理进行了分析和仿真验证.     

整流二极管的IR对HTRB工作寿命的影响

整流器件在工作中的可靠性往往与其漏电流特别是在高温下的漏电流有密切关系,然而对高温下的漏电流往往关注不够。通过对常温与高温漏电流的对比测试,发现两者并没有一致的对应关系;通过对高温漏电流有较大差别的两组样品的高温反偏寿命试验表明:高温漏电流越大,高温反偏寿命越短,说明高温漏电流对高温反偏寿命有重要影响。依据此结果提出了通过对高温漏电流进行测试,实现对高温反偏寿命进行分档、筛选的设想。介绍了利用正向脉冲电流对二极管的pn结进行瞬态加热以实现对高温反向漏电流的快速测试的具体方法。     

基于ARM的矿井下漏电保护装置的研究

针对当前矿井下漏电保护问题,设计了以ARM作为核心的矿井下电网的漏电保护装置,该装置可以解决矿井下总馈电开关和分支馈电开关的漏电保护问题,同时改善了漏电保护装置的动作性能,弥补了过去许多保护装置的不足,应用价值很高。     

基于正余弦计算的CORDIC旋转算法的改进与分析

该文提出了一种基于正余弦流水线CORDIC的模校正因子和级数部分的改进旋转算法,在FPGA仿真中给出了相关实验数据,结果证明了该方法可以有效减少流水级数,降低硬件复杂度,满足计算精度,改进引起的误差精度很小,在实际应用中可以忽略不计。     

温度对CdZnTe载流子输运特性和能谱特性的影响

采用垂直布里奇曼法生长的CdZnTe(CZT)单晶,制备出单平面探测器。在210～300K温度范围内,测试了不同外加偏压作用下探测器的漏电流,并计算了低压下CZT的体电阻率。同时,在不同电场作用下,测试了CZT探测器对未经准直的241 Am@5.48 MeVα粒子脉冲响应信号的上升时间,计算出电子迁移率为1 360cm2/V-1s-1,并进一步推算出电子寿命随温度的变化规律。在220～300K温度范围内,对比了CZT探测器对241 Am@59.5keVγ射线的能谱响应结果,分析了载流子传输特性及器件性能随温度的变化规律。结果表明,在298～253K温度范围内,降低温度可以提高晶体的体电阻率,减少探测器工作时的漏电流,进而提高探测器的能量分辨率;但当温度低于253K时,电子寿命τe加剧减小,此时由上升时间起伏而引起的全能峰的展宽不能被忽略,导致探测器性能恶化。     

（Ba0.5Sr0.5）TiO3铁电薄膜的制备工艺及电学性质研究

采用溶胶 凝胶方法制备出纯立方钙钛矿相、介电性能和漏电流特性良好的 (Ba0 .5Sr0 .5)TiO3 铁电薄膜 .研究发现 ,随着烧结温度的升高 ,(Ba0 .5Sr0 .5)TiO3 薄膜纯度和结晶度增高 ,介电常数提高 ,漏电流密度降低 .在 75 0℃进行保温 1h热处理的薄膜性能较好且稳定 :在室温下测得薄膜介电常数为 2 5 0 ,介电损耗为 0 .0 30 ,漏电流密度为 6 .9× 10 -8A/cm2 .较高的介电常数、较低的漏电流密度可能源于良好的纯度和结晶度 .进一步研究表明 ,薄膜导电遵从空间电荷限制电流机制 .     

半导体设备真空与检漏

基于实际应用,介绍了半导体设备真空结构和真空室常用部件,讲述了He质谱检漏仪的使用方法.总结了真空检漏的经验,阐述了微漏难检的现状.分析了磁控溅射台和ICP真空故障,采用静压检漏法和He质谱检漏仪检漏法,给出了零部件微漏导致这些设备抽不上高真空的结论.指出今后的发展方向是真空部件小型化,以及根据设备特点来提高真空部件的可靠性.结果表明,先排除干扰因素,再细心检漏,可大大提高检漏效率,使设备尽快恢复正常.     

计算机视频信息的电磁辐射泄漏的截获难度分析

本文首先分析了计算机视频信息的电磁辐射泄漏(以下简称视频电磁泄漏)产生的机理,进而分析了影响其截获难度的因素,最后提出了减小视频电磁泄漏被截获的可能性的一些方法.