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介绍了现代电子产品焊接质量的检测技术,以及用于检查焊点质量和组装板(SMA)功能的测试仪器的工作原理及测试能力.目前常见和广泛使用的焊接质量检测方法是人工目测检查,其主要问题是其主观性,只能用来检测电子元件的形状、尺寸、颜色、表面特征及焊点的外观质量;自动光学检测(AOI)可以在整个过程中发现和纠正缺陷,但只是外在的焊点缺陷;激光/红外线组合式检测系统、X射线检测系统可以分析焊点微米级水平的缺陷,能找出其他检测所不能可靠地发现的缺陷,包括空洞、焊点形状差和冷焊锡点等;另外,X射线检测系统能一次测试单面或双面电路,准确地定位缺陷,获取工艺参数,例如锡膏厚度等. 相似文献
82.
光纤荧光传感器衰减寿命的加权对数拟合法 总被引:2,自引:0,他引:2
荧光寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容,国际上尝试了多种方法来拟合这种理论上为单指数衰减信号的荧光衰减曲线。这些方法包括非线性函数标准拟合方法。即Levenburg-Marquardt方法,以及Prony方法、FFT方法,对数拟合法等等。为了克服在实际应用中发生的信号退化,需要在测量信号衰减寿命的同时测量信号的初始强度。文章介绍了一种加权的对数拟合法,经计算机仿真及实际数据测试均可以得到和Levenburg-Marquardt方法非常接近的结果,且拟合时间大大缩短,测量稳定性大大提高。仿真测试及具体实验测试结果显示了这种方法的有效性。该方法不仅与Levenburg-Marquardt方法的偏差曲线非常相似,而且实验测得的荧光寿命与Levenburg-Marquardt方法偏差在0.2%以内。 相似文献
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Diffractive optical elements have a large number of industrial applications, such as beam shaping and optical filtering. Traditionally, these elements modulate the phase of the incoming light or its amplitude, but not both. To overcome this limitation, full complex-amplitude modulation diffractive optical elements were developed. Well-established integrated circuit fabrication steps were employed to fabricate the devices with high precision. Using this approach, the new element‘s optical performances are improved also for near field operations. With this device it is possible to obtain 100% efficient spatial filtering and low noise reconstructed images. 相似文献
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研究了γ-辐照前后纯Y2SiO5和Eu3+掺杂的Y2SiO5晶体吸收光谱的变化,辐照后,未退火和氢气退火的纯Y2SiO5晶体在260~270 nm和320 nm波段产生了附加吸收峰,分别是由F心和O-心的吸收引起的;经过空气退火的纯YSO晶体中,由于消除了氧空位,因此辐照后没有出现色心吸收峰。在Eu3+∶Y2SiO5晶体中,不但有相同的F心和O-心吸收峰,而且还有Eu2+离子在300 nm和390 nm的吸收峰。随着辐照剂量的增加,色心附加吸收峰增强。空气退火能减少Eu3+∶Y2SiO5晶体中的色心,而氢气退火能增加色心。 相似文献
88.
This article compares the performance of WDM lightpath protection and IP LSP protection schemes for IP-over-WDM networks. A mathematical formulation of the maximum throughput problem is presented and analytical expressions for recovery time are derived for both schemes. The throughputs and recovery times are analyzed and compared. Results show that the IP LSP protection scheme presents higher throughputs then WDM lightpath protection. The IP LSP protection scheme, providing individual IP LSP protection has, however, scalability problems. This scheme presents high recovery times when a failure affects many lightpaths and many hops are allowed for the primary routes of IP LSPs. 相似文献
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90.
We carried out detailed calculations for photorefractive wave-mixing switches based on one of three crystals with high electro-optic coefficients, namely, BaTiO3, Strontium Barium Niobate (SBN (0.75)), and Potasium Sodium Strontium Barium Niobate (KNSBN). A comparison of results for the three crystals shows that a 0_-cut BaTiO3 crystal is suitable for a longitudinal switch and requires a voltage of about 80 for a 2-mm-thick crystal to induce sufficient phase mismatch. The electrodes must be transparent for the incident and diffracted beams. A 45_-cut SBN (0.75) crystal, however, is suitable for a lateral switch and requires a voltage of about 150 for a 1-mm-wide crystal. The electrodes do not need to be transparent. 相似文献