油漆涂层下PVDF的应变传感及测量方法研究

针对目前聚偏二氟乙烯(PVDF)压电薄膜在船舶与海洋工程结构表面应变传感应用方面存在的一些缺陷,提出了一种将压电薄膜保护在结构的油漆涂层下面,并采用非接触式静电电压表检测薄膜表面感应电荷的结构表面应变测量方法。首先,根据压电方程推导了在非接触测量方式下,电压表测量电压和结构表面应变分量间的关系式;然后,从静电电压表探头的测量原理分析了探头和被测表面间的零电场技术,从理论上预测可以对埋藏在油漆涂层下的PVDF压电薄膜进行感应电荷检测;最后在一块平滑钢板试件上粘贴10片压电薄膜,并进行表面油漆喷涂处理,通过试件单向加载实验,对电压-应变关系式中的参数进行标定和测量油漆涂层下的薄膜表面感应电荷。实验结果表明,该法在应用上具有可行性和明显的工程意义。     

非接触式原子力显微镜在分子几何结构解析中的应用进展

具有化学键分辨的非接触式原子力显微（nc-AFM）表征展现出了优异的分子结构解析能力,是近十年来显微表征领域里的代表性进展,成为表面分子相关研究的重要工具。本文首先介绍了化学键分辨的非接触式原子力显微镜的核心部件: qPlus传感器,以及实现化学键分辨所必须的针尖修饰技术。围绕该表征方法在分子几何结构成像上的功能,重点介绍了nc-AFM在天然产物结构确定以及表面在位反应研究上的最新进展。     

物体三维信息测量技术综述

分类讨论了物体三维信息测量中所用的技术，介绍了各种技术的基本原理及其特点，并给出了应用实例，指出物体三维信息测量技术、数据处理技术以及特征提取技术的有机结合是实现各种测量技术广泛应用的重要基础。     

基于机器视觉检测的大视场双远心光学系统设计

基于机器视觉的大视场非接触精密检测的需求,参照卡尔蔡司公司的TVM150／11／0．1远心镜头指标,设计了一款大视场双远心光学系统。采用了近对称的结构和半部设计的设计思路,较好地控制了畸变和倍率色差,实现了长工作距离（大于160mm）、大视场（物方视场达到西150mm）、低畸变（最大畸变小于1个像素）、高分辨（在2／3″CCD全视场200lp／mm处光学传函优于0．3）、宽景深（设计景深达到了±38mm）和双远心系统的设计要求。着重分析了系统各器件偏心对畸变的影响,通过对关键器件的偏心控制,有效地抑制了由于生产制造过程中的偏差产生的随机畸变对测量误差的影响,从而为实际生产提供了理论指导。     

用于汽轮机动静间隙测量的光纤传感系统设计

设计了用于汽轮机动静间隙测量的反射式光强调制型非接触式光纤传感系统，分析了工作原理，研究了测试系统的特性，对系统中的关键问题提出了有效的解决办法。理论分析和测试结果表明，此测试系统可以实现对被测物体动静间隙的高精度测量。     

双面光学共焦技术的透镜中心厚度测量设计

基于共焦法测量透镜中心厚度的装置中,需要光进入透镜内部发生折射和反射,但这会影响测量精度。为了解决这一问题,在共焦法原理的基础上,采用双面光学共焦的测量方法,设计了一套透镜中心厚度的测量装置,并进行了理论分析、误差分析和试验验证。结果表明,该装置测量范围能达到30mm,测量精度为2m。该装置实现了对透镜中心厚度的高速非接触测量,完全能达到实际测量的需要。     

光束-靶面入射角非接触式测量方法分析

根据靶面上人为设置的多个标识点之间的几何关系随靶面姿态的变化而变化的特性,设计出一种快速准确的光束-靶面入射角测量算法,满足光束到靶入射角测量的任务需求。在提取靶面已知特征点的基础上,采用光学传感器的内参数,测量出光束到靶入射角,此算法以非接触的方式完成光束到靶入射角的测量。为了验证算法的有效性和实用性,开展了仿真实验,结果表明该方法具有较高稳定性和可靠性。     

基于DSP和线阵CCD外螺纹几何参数非接触测量方法研究

为了提高外螺纹尺寸检测的精度并实现自动化测量,文章提出了基于线阵CCD的非接触测量方法,建立了包括图像数据自动采集和尺寸计算的测量系统,该系统通过控制高精度的线阵CCD扫描外螺纹在平行光场中的投影并结合光电编码器来获取螺纹图像。文章详细介绍了线阵CCD驱动电路的实现,以TMS320F2812为信号处理器的线阵CCD在线测量系统的硬件结构与软件设计。     

超声波液压系统流量和压力统一测量研究

在充分调研国内外管道流量和压力检测技术的基础上,提出了基于非接触式的超声波液压系统流量和压力统一测量的检测方法。该方法克服管道壁厚影响,而且有效地消除系统误差,达到了较高的精度。根据声学方面和流体力学的相关知识,利用液压系统压力变化引起油液声速变化这一物理特性,并结合时差法超声波流量计的检测原理,证明了超声波流量计检测方法能够有效的对管道压力进行测量,具有重要的实用价值。     

半绝缘半导体切片电阻率无接触测定方法研究

与很多测试方法一样,电阻率是通过流过电接触样品的电流,测出其电压下降值来测定的.文中通过对无接触和接触两种主要测试方法的研究对比,探讨了用电容式探测器对半绝缘半导体切片电阻率的无接触测定,并论述了其测试原理、测试所用电容器、测试条件、测试过程及结果计算.