一个完善的秘密分享方案

可验证秘密分享在实用密码学领域内是一个非常重要的工具,它在密钥管理协议、门限或分布式签名协议、电子商务、多方安全计算及团体式密码系统等许多方面都有极为广泛的应用。针对一类突发事务须及时、安全解决的特点, 利用离散对数问题的难解性,在假设初始化阶段和秘密恢复阶段始终有一位值得信赖的分发者参与的情况下,提出了一个可公开验证的门限秘密分享方案。     

一种二元域上的快速计算哈希函数

论文从映射的角度,将哈希函数分为三类:严格哈希函数、计算哈希函数和实用哈希函数。在此基础上,根据二元域上二次方程x2 x c=0的部分不可解的性质,构造了一种计算哈希函数,它满足单向性和一一对应性,同时具有运算速度快的优点。     

一个基于相邻像素兼容度的模糊加权平均滤波器

在文献[1]的基础上，提出几个改进的模糊加权平均滤波器。本文的方案不仅同时考虑了相邻像素对中心像素的兼容性以及中心像素对相邻像素的兼容性，而且还考虑到了权系数对局部环境的适应性。实验结果表明，该方法相比文献[1]中的模糊加权平均滤波器以及标准的均值滤波器、中值滤波器在噪声消除与边缘保留方面具有更好的性能。     

分组密码算法芯片验证

介绍了分组密码算法芯片验证的流程、内容和方法,详细介绍了分组密码算法芯片的验证技术——测试基准。     

小波变换分离太阳射电频谱图中的纤维结构

太阳射电爆发纤维精细结构是太阳射电爆发活动中一类重要的观测现象,利用二维小波变换对纤维精细结构动态频谱图进行处理,分离频谱图中的纤维结构。首先对原始频谱图实行多层小波变换,由低频分量重构原始图像,就可得到爆发的背景信息,令原始频谱图减去背景并经过阈值处理后,便可将原始频谱图中的纤维结构很好地分离出来。     

一类Feistel密码的线性分析

该文提出一种新的求取分组密码线性偏差上界的方法，特别适用于密钥线性作用的Feistel密码．该分析方法的思路是，首先对密码体制线性偏差进行严格的数学描述，分别给出密码线性偏差与轮函数F及S盒的线性偏差的数学关系；然后通过求取线性方程组最小重量解，确定密码线性偏差的上界．     

基于主体外部轮廓的照片分割算法

在实际应用中常常需要将人像从照片的背景中有效地分割出来，通常的做法是通过提取照片中人像各部分特征来实现分割，其缺陷是计算复杂度较大，分割效果受各种干扰因素影响很大。现提出了一种基于主体外部轮廓信息的照片分割算法，通过梯度锐化、边缘保护、临近像素点相似度比较来确定图像的边界，该算法对于具有相对均匀背景的照片具有较高的计算效率。     

自动交换光网络控制平面功能结构的探讨

文章主要讨论了自动交换光网络(ASON)控制平面的两种不同结构：控制平面在网元外部的结构和控制平面部分集成在网元内部的结构，并对这两种结构进行了比较．     

Noise-Assisted Signal Reception in Threshold Neuron

1IntroductionSometi mes,noise can i mprove signal transmission orsignal processing in a nonlinear system.This phe-nomenonis the so-called Stochastic Resonance(SR)[1].Most studies of SRinvolve asubthresholdsignal througha single nonlinear systemand the non…     

Signal Integrity: Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs

As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis.