双/多基地制导雷达定位精度分析

介绍了双/多基地制导雷达五种定位方法,首先对T-R型雷达系统定位精度进行了系统仿真,然后对五种定位算法的优缺点进行分析比较。最后通过多站定位对定位性能好的两种算法进行数据融合。仿真结果表明,利用多基地制导雷达定位改善了基线附近的定位精度,使距离解算精度得到进一步提高。     

Ka频段单偏置天线馈源定位精度分析

抛物面天线中,馈源与反射面的相对位置非常重要,因为它直接影响天线电气性能。以Ka频段单偏置抛物面天线为例,分析计算了馈源横向偏焦、纵向偏焦对天线方向图和增益的影响,并给出2组关于馈源偏焦距离与天线第一旁瓣电平和天线增益相对关系图,为今后天线结构设计提供一个理论依据。测试结果表明,该结果可以应用于实际工程。     

高准确度数字式时频域实时频率测量系统

针对弱信号条件下的频率精确测量问题,提出了一种新的时域和频域相结合的算法, 实现了一种数字式实时高准确度频率测量系统。搭建了系统测试平台,测试结果表明,测量 时间为1 024个采样点、归一化频率为05条件下,信噪比10 dB情况下相对均方根 准确度约为1.2×1 0-5,信噪比0 dB条件下相对均方根准确度约为77×10－5。在较高信噪 比、10万点测量时间下相对均方根准确度可达71×10－11。     

高频单站定位误差特性分析及精度优化构想

从降低高频单站定位误差、提高系统整体性能角度出发,系统性地分析了高频单站定位误差源——电离层虚高、测量仰角和方位角——对定位误差影响的规律。基于误差特性分析结果,提出了优化定位精度的构想:一是通过选择合理的电离层模型,并基于探测数据进行实时修正来提高电离层虚高准确度;二是通过选择优质测向体制和天线场地、研究基于电离层斜向探测等技术的测向校正方法来提高测向准确度;三是应用迭代算法用以克服方法近似所带来的误差。通过方法可行性,论证了优化构想和电离层斜向探测技术对提高高频单站定位精度的重要意义。     

传感器网络节点定位精度的几何稀释分析

通过分析时间到达(Time of Arrival,TOA)算法的定位原理,利用定位精度的几何稀释(Geometrical Dilution ofPrecision,GDOP),描述定位误差与锚节点群几何布局关系,并给出基于测距的算法中GDOP的计算方法。采用蒙特卡罗仿真方法,仿真次数100,设定锚节点的测距误差相同,取锚节点数为3、5,对基于锚节点群内点、外点的未知节点定位误差的归一化GDOP值和GDOP均值求解,结合质心算法原理,验证了自身节点定位精度与确定该节点位置的锚节点的几何关系密切相关,得到锚节点群内点定位精度高的结论。     

被动全向浮标HYFIX定位精度仿真分析

在HYFIX定位原理的基础上,建立了被动全向浮标HYFIX定位误差模型,通过计算机仿真分析了声纳作用距离、浮标布放间隔以及浮标布放阵形对被动全向浮标HYFIX定位精度的影响,为反潜机执行搜潜作战任务时,合理地选择浮标的布放间隔和布放阵形提供理论依据。     

闪烁测量仪的性能要求与校验方法

电压波动和闪烁测量是电子电器产品EMC测量和电能质量检测中的一个重要项目,但电压波动和闪烁测量仪的校验一直是一个难题,多数校准实验室并不具备相应的能力,行业中也普遍忽视该仪器的校准与验证。依据实验室量值溯源的要求,分析电压波动和闪烁测量项目中需要校准的参数及其准确度要求,介绍了电压波动和闪烁测量仪的校准方法,以及实验室如何进行验证的方法。     

扫描型红外探测系统指向精度的测量

描述和分析了扫描型红外探测系统指向精度测量的必要性,并提出了一种扫描型红外探测系统指向精度的测量方法.该方法综合了内场测量和外场测量的优点,降低了系统在整个测量过程中由于检测设备的误差和检测方法不当所引起的偏差.并对误差产生的原因以及造成的结果进行了分析.有利于扫描型红外探测系统指向精度的高精度测量和校正.     

本征掺杂环栅MOSFET器件连续表面势电压方程及其在从积累到反型区域的解析解

本文提出了本征掺杂的长沟环栅MOSFET器件的连续表面势方程并讨论了其物理解。这个 方程适用于器件从积累到强反型的工作区域。原始方程通过简化Poisson方程的精确解得到, 然后通过经验修正得到满足连续性条件的表面势电压方程,允许表面电势及其导数由 解析式表示,同时在积累到反型、线性到饱和区域精确连续。基于这个结果,我们对 表面电势和中心电势对器件尺寸的依赖关系进行了分析,并通过三维的器件模拟进行 了验证。     

微波互作用系统对铯原子钟准确度的影响

本文对铯束管中微波互作用系统影响铯原子钟频率准确度的因素进行了理论分析和实验研究,提出了如何减小这些因素影响的建议和方法。