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141.
高性能声表面波调频振荡器的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
分析了声表面波谐振器的性能 ,论述了声表面波振荡器的工作原理及设计方法 ,最终完成中心频率为797.3 MHz的振荡电路 ,调频带宽 2 MHz(2 5 0 0 PPM)。文中对影响调频带宽、相位噪声的因素进行了分析讨论。本项目研究成果已获得实际应用 相似文献
142.
对激光二极管泵浦的NdYAG声光调Q腔内倍频固体激光器的折叠腔型进行了研究,当泵浦功率达800 W时,在V型腔上实现了脉宽为80 ns、重复频率为10 kHz、发散角为6 mrad、绿光功率为112 W的输出;在Z型腔上实现了脉宽为95 ns、重复频率为10 kHz、发散角为4 mrad、绿光功率为120 W的输出.比较两种腔型的实验结果可看出,Z型腔由于插入的光学元件较多,腔长较长,输出激光的脉宽较宽,但输出激光的光束质量有明显的提高. 相似文献
143.
种子注入式单纵单横电光调Q激光器 总被引:2,自引:2,他引:2
基于种子注入技术、干涉法腔模锁定方案以及自滤波非稳腔技术,设计并研制出一套单纵单横电光调Q脉冲激光器系统。该系统输出的基波(波长1064nm)能量达到600mJ,倍频后绿光能量达到300mJ,发散角接近衍射极限,线宽接近傅里叶变换极限,在强气流强振动环境中单纵模的锁定概率为100%。实验观测了种子注入对巨脉冲建立时间、光斑模式以及能量的影响。该系统可应用于受激布里渊散射(SBS)、大视场风洞全息以及光学合成孔径等研究领域。 相似文献
144.
文中着重阐述了基于微机电系统(Micro-Electro-Mechanical Systems,MEMS)技术制造的薄膜体声波谐振器/滤波器,简述了它的结构及原理,分析了其主要特征参数和设计方法,并设计了中心频率为2.4GHz,带宽为100MHz的带通滤波器,展示了薄膜体声波谐振器/滤波器的突出性能,为通信MEMS技术的微型化发展提供了更广阔的道路。 相似文献
145.
146.
谐振式光纤陀螺调相谱检测技术中的光克尔效应 总被引:1,自引:1,他引:1
谐振式光纤陀螺(R-FOG)是基于Sagnac效应产生的谐振频率差来测量旋转角速率的一种新型光学传感器。信号检测技术和系统中存在的各种噪声对系统的检测精度有着重要的影响。基于调相谱检测技术的谐振式光纤陀螺系统中,除顺时针(CW)和逆时针(CCW)光路传播的光强不均匀会引入非互易相位差,使系统出现零漂外,顺时针和逆时针光路的调制系数也会引入系统零漂。光克尔效应引入的系统零漂与系统的真实旋转在测量时是无法区分的,因此成为主要的噪声之一。通过光波场叠加原理,推导得到调相谱检测方案下的谐振式光纤陀螺系统中,光克尔效应引起的系统零漂的解析表达式。依据光克尔效应产生的零漂不随陀螺转速的改变而变化,利用简单的开环系统,对光克尔效应引入的陀螺零漂进行了测试。 相似文献
147.
148.
149.
150.
A. F. Krupnov M. Yu. Tretyakov V. V. Parshin V. N. Shanin M. I. Kirillov 《International Journal of Infrared and Millimeter Waves》1999,20(10):1731-1737
By the use of Fabry–Perot resonator with quality factor 600 000 and fast precision (down to one Hertz) frequency control of coherent millimeterwave radiation source the 20 Hz accuracy in measurements of the width of resonance curve is obtained. This accuracy corresponds to the detection of 1.8 × 10–3 dB/km absorption in the sample filling the resonator and exceeds the before known sensitivity more than by an order of magnitude. The example of precise measurement of 60 GHz oxygen absorption band in the real atmosphere is presented. The new possibilities of application of precision resonator microwave spectroscopy to the atmospheric problems as well as to the ultra-low absorptions measurements in dielectrics and metal surfaces up to Terahertz frequencies are discussed. 相似文献