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C. Ren D.S.H. Chan W.Y. Loh G.Q. Lo N. Balasubramanian D.-L. Kwong 《Solid-state electronics》2007,51(11-12):1479
In this paper, we report for the first time a novel dual metal gate (MG) integration process for gate-first CMOS platform by utilizing the intermixing (InM) of laminated ultra-thin metal layers during high-temperature annealing at 1000 °C. In this process, an ultra-thin (2 nm) TaN film is first deposited on gate dielectric as a buffer layer. Preferable laminated metal stacks for NMOS and PMOS are then formed on a same wafer through a selective wet-etching process in which the gate dielectric is protected by the TaN buffer layer. Dual work function for CMOS can finally be achieved by the intermixing of the laminated metal films during the S/D activation annealing. To demonstrate this process, prototype metal stacks of TaN/Tb/TaN (NMOS) and TaN/Ti/HfN (PMOS) has been integrated on a single wafer, with WF of 4.15 and 4.72 eV achieved, respectively. Threshold voltage (Vth) adjustment and transistor characteristics on high-k HfTaON dielectric are also studied. 相似文献
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模拟电路软故障诊断的研究 总被引:7,自引:2,他引:7
分析了模拟电路软故障诊断的重要性及现有的各种软故障诊断方法。对模拟电路软故障诊断字典法中基于支路屏蔽原理、电路参数随元件参数变化轨迹、节点电压灵敏度序列守恒定理和节点电压增量关系方程的四个研究方向各自的基本原理和优缺点进行了探讨;介绍了基于神经网络,结合模糊理论、小波变换的现代模拟电路软故障诊断的两个方向的研究现状;同时从通用的软故障诊断方法、大规模模拟电路的诊断策略和数模混合集成电路的诊断需求三方面指出了模拟电路软故障诊断的发展趋势和亟待解决的问题。 相似文献
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Noise discrepancies in multiple scales are utilized as indicators for image splicing forgery detection in this paper. Specifically, the test image is initially segmented into superpixels of multiple scales. In each individual scale, noise level function, which reflects the relation between noise level and brightness of each segment, is computed. Those segments not constrained by the noise level function are regarded as suspicious regions. In the final step, pixels appears in suspicious regions of each scale, after necessary morphological processing, are marked as spliced region(s). The Optimal Parameter Combination Searching (OPCS) Algorithm is proposed to determine the optimal parameters during the process. Two datasets are created for training the optimal parameters and to evaluate the proposed scheme, respectively. The experimental results show that the proposed scheme is effective, especially for the multi-objects splicing. In addition, the proposed scheme is proven to be superior to the existing state-of-the-art method. 相似文献