全文获取类型
收费全文 | 12002篇 |
免费 | 2506篇 |
国内免费 | 734篇 |
专业分类
化学 | 732篇 |
晶体学 | 49篇 |
力学 | 712篇 |
综合类 | 96篇 |
数学 | 416篇 |
物理学 | 3644篇 |
无线电 | 9593篇 |
出版年
2024年 | 66篇 |
2023年 | 116篇 |
2022年 | 241篇 |
2021年 | 267篇 |
2020年 | 349篇 |
2019年 | 277篇 |
2018年 | 297篇 |
2017年 | 414篇 |
2016年 | 484篇 |
2015年 | 562篇 |
2014年 | 901篇 |
2013年 | 840篇 |
2012年 | 972篇 |
2011年 | 1050篇 |
2010年 | 834篇 |
2009年 | 714篇 |
2008年 | 836篇 |
2007年 | 919篇 |
2006年 | 883篇 |
2005年 | 663篇 |
2004年 | 550篇 |
2003年 | 501篇 |
2002年 | 389篇 |
2001年 | 382篇 |
2000年 | 299篇 |
1999年 | 239篇 |
1998年 | 210篇 |
1997年 | 164篇 |
1996年 | 157篇 |
1995年 | 133篇 |
1994年 | 110篇 |
1993年 | 70篇 |
1992年 | 69篇 |
1991年 | 78篇 |
1990年 | 34篇 |
1989年 | 26篇 |
1988年 | 24篇 |
1987年 | 21篇 |
1986年 | 14篇 |
1985年 | 13篇 |
1984年 | 19篇 |
1983年 | 7篇 |
1982年 | 8篇 |
1981年 | 12篇 |
1980年 | 12篇 |
1979年 | 3篇 |
1978年 | 2篇 |
1977年 | 3篇 |
1971年 | 2篇 |
1957年 | 1篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 390 毫秒
11.
随机频率捷变和脉冲重复周期随机抖动可以使雷达具有较强的抗侦察、抗干扰能力。某型雷达具有伪随机频率捷变和脉冲周期参差捷变功能。本文分析了在该雷达上实现随机频率捷变和脉冲重复周期随机抖动的技术途径和可行性。 相似文献
12.
13.
20位单片音频数模转换器PCM63P 总被引:1,自引:0,他引:1
PCM63P是美国BB公司生产的具有超低失真性能(满量程输出最大为-93dB)的精密20位数模转换器,可应用于低失真频率合成、高级消费品和特殊的数字音频应用等方面。文中介绍了PCM63P的工作原理及应用电路。 相似文献
14.
研究了红外频段非线性s偏振表面波在反铁磁晶体和电介质交界面上的频率特性,求出了非线性色散方程,揭示了非线性s偏振表面波存在一个临界频率,低于这个频率,非线性s偏振表面波的频率范围,发现功率不再是决定导波频率范围的唯一因素,两种材料的介电常数比在这里起了至关重要的作用。 相似文献
15.
报导一种模糊逻辑控制系统的建模与优化方法。以此方法设计的模糊逻辑控制器,用于双波长稳频CO2激光器的控制得到令人满意的结果。 相似文献
16.
针对VO2薄膜在微测辐射热计上的应用,采用射频反应溅射法,在室温下制备氧化钒薄膜;研究了氧分压对薄膜沉积速率、电学性质及成分的影响.通过调节氧分压,先获得成分接近VO2的非晶化薄膜,再在400℃空气中氧化退火,便可制得高电阻温度系数,低电阻率的VO2薄膜,电阻温度系数约为-4%/℃,薄膜方块电阻为R□为100—300kΩ;薄膜在室温下沉积,400℃下退火的制备方法与微机电加工(micro electromechanic
关键词:
二氧化钒
电阻温度系数
氧分压
射频反应溅射法 相似文献
17.
为了描述复杂的噪声环境,考虑了一种具有频率结构的噪声——简谐速度噪声,包括它的产生、关联函数、功率谱以及作为热噪声时的频率特性所导致的一些行为.结果表明:在频谱空间中简谐速度噪声是一种带通噪声,存在一个峰值频率,且噪声带宽由参量Γ控制.当简谐势中的一个布朗粒子受热简谐速度噪声驱动时,粒子能量极大值出现在两种频率相等的情况下.这表明噪声和势场的频率之间存在动力学共振,决定着粒子能量的大小.
关键词:
简谐噪声
简谐速度噪声
功率谱
频率共振 相似文献
18.
19.
用能量法求多自由度振动系统的角频率 总被引:2,自引:1,他引:1
利用简谐振动能量方程,通过分析振幅矢量的关系,用能量法求多自由度振动系统的角频率或简正振动频率。 相似文献
20.
Modification of the visual appearance when a rough surface is covered by a varnish is mostly attributed to the levelling of the substrate surface, which depends on the molecular weight of the varnish. The topography of varnished surfaces, however, has never been measured directly. Surfaces of varnishes applied over glass substrates of varying roughness were studied, therefore, using mechanical profilometry. Two different varnishes made with a low and a high molecular weight resin were studied. Both varnishes lower the r.m.s. roughness of the substrates and filter the high spatial frequencies. These results are amplified for the varnish containing the low molecular weight resin. The light reflected by the varnished samples is modelled from these topographical data. Its angular distribution, calculated from the probability density of slopes is presented, taking into account separately the air/varnish and the varnish/substrate interfaces. These analyses are presented in a back-scattering configuration. They show that varnishing significantly reduces the angular width of the reflected light and that this effect is magnified for the low molecular weight resin. Modelling furthermore shows that the influence of the roughness of the varnish/substrate interface is negligible in the total reflected light. 相似文献