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101.
102.
When a circuit is tested using random or pseudorandom patterns, it is essential to determine the amount of time (test length) required to test it adequately. We present a methodology for predicting different statistics of random pattern test length. While earlier methods allowed estimation only of upper bounds of test length and only for exhaustive fault coverage, the technique presented here is capable of providing estimates of all statistics of interest (including expected value and variance) for all coverage specifications.Our methodology is based on sampling models developed for fault coverage estimation [1]. Test length is viewed as awaiting time on fault coverage. Based on this relation we derive the distribution of test length as a function of fault coverage. Methods of approximating expected value and variance of test length are presented. Accuracy of these approximations can be controlled by the user. A practical technique for predicting expected test length is developed. This technique is based on clustering faults into equal detectability subsets. A simple and effective algorithm for fault clustering is also presented. The sampling model is applied to each cluster independently and the results are then aggregated to yield test lengths for the whole circuit. Results of experiments with several circuits (both ISCAS '85 benchmarks and other practical circuits) are also provided.This work was done while the author was with the Department of Electrical Engineering, Southern Illinois University, Carbondale, IL 62901.  相似文献   
103.
We study the large-sample properties of a class of parametric mixture models with covariates for competing risks. The models allow general distributions for the survival times and incorporate the idea of long-term survivors. Asymptotic results are obtained under a commonly assumed independent censoring mechanism and some modest regularity conditions on the survival distributions. The existence, consistency, and asymptotic normality of maximum likelihood estimators for the parameters of the model are rigorously derived under general sufficient conditions. Specific conditions for particular models can be derived from the general conditions for ready check. In addition, a likelihood-ratio statistic is proposed to test various hypotheses of practical interest, and its asymptotic distribution is provided.  相似文献   
104.
分形维数与城市规模分布评析   总被引:3,自引:1,他引:2  
本在分形概念的基础上,指出城市规模分布是基于统计意义上的一种分形分布,并计算了安徽省1978~1998年城市规模分布的分维值,评析了安徽省城市规模分布变化的特征。  相似文献   
105.
A method has been developed to determine the boiling point distribution of sulfur compounds in light cycle oils (LCO'S). The method chosen for this analysis was GC with a flame photometric detector (FPD) and pyrolyzer. Tests were carried out to evaluate the recovery efficiency, repeatability, and accuracy of the method. Repeatabilities within 2% were obtained. The recovery of benzothiophenes and dibenzothiophenes was close to 100%; this was important because these are the major sulfur components in LCO's. No hydrocarbon or solvent interferences were observed with the use of the pyrolyzer, even for a 95% solvent level. Comparison with results from other techniques showed that the method accurately determined the levels of sulfur compounds in the LCO boiling point range.  相似文献   
106.
封装工业正在推动着印制线路板技术水平朝着半导体要求的方向发展。高密度印制线路板正广泛用于网络路由器、自动测试设备和服务器领域。高密度要求(>150 IO/cm~2)正成为客户的普通需求。为满足现有的高密度封装要求,由于线宽、线距和通孔孔径正接近传统制作极限,普遍的方法就是不断增加印制线路板的层数。这些特征正驱动着印制线路板在基材、图像转移、蚀刻、电镀、阻焊、测试流程和对位系统的变化。此文主要讲述了印制线路板特性的变化趋势和利用对位模式和雷利分布去预测满足高级对位要求的能力以及印制线路板各流程中有关对准度的控制要点。  相似文献   
107.
基于媒体用户访问行为偏好模型的代理缓存算法   总被引:2,自引:0,他引:2  
目前,代理缓存技术广泛应用于改善流媒体传输的服务质量.文章从实际用户日志文件的分析出发,利用发现的用户浏览流媒体对象时的行为分布模型,提出了一种新的视频流媒体缓存算法.仿真结果证明,该算法可以通过记录很少的用户访问信息获取较高的性能表现.  相似文献   
108.
本文考虑损失函数的估计问题,分别对于球对称分布和均匀分布情形给出了其参数的J-S型估计量的损失之估计,它们满足[1]中提出的条件(Ⅰ)和(Ⅱ).  相似文献   
109.
本文研究了加法复合布尔函数和乘法复合布尔函数,在平衡性、k次项系数、K次扩散准则(PC)、相关免疫 性(CI)、Walsh谱、代数次数、小项分布等方面得到了一批新结果。  相似文献   
110.
本提出一个偏微分方程方法,用这一方法研究同输入M/M/∞排队群中的联合队长分布。在任意初始条件下,给出了瞬时联合队长分布的多元母函数,也讨论了稳态队长的联合分布及各排队系统之间的相关性。  相似文献   
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