首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   9385篇
  免费   2483篇
  国内免费   764篇
化学   615篇
晶体学   117篇
力学   1192篇
综合类   57篇
数学   396篇
物理学   6105篇
无线电   4150篇
  2024年   38篇
  2023年   87篇
  2022年   159篇
  2021年   169篇
  2020年   237篇
  2019年   210篇
  2018年   206篇
  2017年   242篇
  2016年   297篇
  2015年   328篇
  2014年   609篇
  2013年   551篇
  2012年   594篇
  2011年   789篇
  2010年   599篇
  2009年   663篇
  2008年   719篇
  2007年   715篇
  2006年   689篇
  2005年   589篇
  2004年   544篇
  2003年   490篇
  2002年   424篇
  2001年   429篇
  2000年   365篇
  1999年   304篇
  1998年   267篇
  1997年   248篇
  1996年   213篇
  1995年   172篇
  1994年   143篇
  1993年   122篇
  1992年   98篇
  1991年   81篇
  1990年   68篇
  1989年   45篇
  1988年   29篇
  1987年   21篇
  1986年   13篇
  1985年   13篇
  1984年   13篇
  1983年   9篇
  1982年   8篇
  1981年   7篇
  1980年   4篇
  1979年   6篇
  1978年   1篇
  1976年   3篇
  1974年   2篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
11.
利用室温下压电调制反射光(PzR)谱技术系统测量了N掺杂浓度为0.0%—3%的分子束外延生长GaNxAs1-x薄膜,并对图谱中所观察的光学跃迁进行了指认.在GaN0.005As0.995和GaN0.01As0.99薄膜的PzR谱中观察到此前只在椭圆偏振谱中才看到的N掺杂相关能态E11N.当N掺杂浓度达到 关键词: 压电调制反射光谱(PzR) xAs1-x薄膜')" href="#">GaNxAs1-x薄膜 分子束外延(MBE)  相似文献   
12.
The excitation of eigen surface waves by tubular electron beams in cylindrical discharge devices is studied. The influence of the wave‐field azimuthal structure on the excitation efficiency and nonlinear stage of the plasmabeam instability is investigated both numerically and analytically. Analytical expressions for the saturation amplitude and excitation efficiency of the wave under study are derived. They are found to agree well with results obtained by numerical modelling of the plasma‐beam interaction presented in this paper. (© 2006 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim)  相似文献   
13.
定向棱镜腔平顶高斯激光束特性的研究   总被引:9,自引:2,他引:7       下载免费PDF全文
王小兵  孙斌  程勇  王古常  曾文锋  王大勇 《激光技术》2002,26(2):117-119122
在XeCl准分子激光器中,采用定向棱镜作为端反射镜与平面输出镜构成激光器谐振腔,获得了近场能量分布均匀、远场能量分布高度集中的相干平顶高斯激光束输出,并具有腔镜高抗失调能力,改善了激光束质量。  相似文献   
14.
激光晶体Nd:YVO4的形貌及生长缺陷   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文报道了应用环境扫描电镜(ESEM)和同步辐射X射线白光形貌术对采用提拉法生长出的Nd:YVO4晶体进行的形貌及生长缺陷的分析,获得了该晶体的开裂表面的ESEM形貌像以及取自晶体肩部和中间部位的(001)面的同步辐射白光形貌像,观察到了位错、包裹物等缺陷,可为生长高质量的Nd:YVO4晶体提供重要的启示.  相似文献   
15.
Ⅰ线光致抗蚀剂可以同时实用电子束和光学系统曝光,在50kV加速电压下,其曝光剂量为50-100μC/cm^2,曝光后在0.7%NaOH溶液内显影1分钟。其灵敏度比PMMA快5倍,分辩率为0.5μm。采用两方法制备CaAsPHEMT:一种用Ⅰ线光致抗蚀剂,对源、漏及栅全部都采用电子束曝光,制备了0.5μm栅长的GaAs PHEMT;另一种将源、漏及栅分割成两部分,其中精细部分由电子束曝光,其余部分由光学系统曝光,用这种方法制备了0.25μm栅长的GaAs PHEMT。Ⅰ  相似文献   
16.
Z. Bouchal   《Optics Communications》2002,210(3-6):155-164
The revival of the nondiffracting vortex beam after its interaction with the 2D on axis obstacle is examined. We show that the phase topology and the spatial distribution of the orbital angular momentum of the beam transmitted through the obstacle regenerate to the initial form during further free propagation. We verify that the healing effect appears even if the interaction is accompanied by the exchange of the orbital angular momentum.  相似文献   
17.
建立了一个四组分一维混合模型,对电子束注入大气产生大尺度等离子体的过程进行了数值模拟.结果表明了能量为140keV、流强为50mA/cm2的注入电子束,可以产生线度为0.5m,密度为1012cm-3量级的大气环境下等离子体.电子束所伴随的空间电荷效应由于等离子体的产生会很快消失,不影响后续的等离子体产生过程.电子束注入流强主要影响产生等离子体的密度,而电子束能量则同时影响其空间线度和密度. 关键词: 电子束 碰撞 电离  相似文献   
18.
非傍轴平顶高斯光束M2因子两种定义的比较研究   总被引:3,自引:2,他引:1  
基于功率密度的二阶矩方法,推导出了非傍轴平顶高斯(FG)光束束宽和远场发散角的解析表达式·研究表明,当w0/λ→0时,远场发散角趋于渐近值θmax=63.435°,与阶数无关·使用非傍轴高斯光束代替傍轴高斯光束作为理想光束,研究了非傍轴FG光束的M2因子,并与传统定义的M2因子作了比较·在非傍轴范畴,非傍轴FG光束的M2因子不仅与阶数N有关,而且与w0/λ有关·按照定义,当w0/λ→0时,非傍轴FG光束的M2因子不等于0,对阶数N=1,2,3时,M2因子分别趋于0.913,0.882和0.886·当N→∞时,M2因子取最小值M2min=0.816·  相似文献   
19.
非傍轴平顶高斯光束M2因子两种定义的比较研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
康小平  吕百达 《光子学报》2006,35(3):431-434
基于功率密度的二阶矩方法,推导出了非傍轴平顶高斯(FG)光束束宽和远场发散角的解析表达式.研究表明,当w0/λ→0时,远场发散角趋于渐近值θmax=63.435°,与阶数无关.使用非傍轴高斯光束代替傍轴高斯光束作为理想光束,研究了非傍轴FG光束的M2因子,并与传统定义的M2因子作了比较.在非傍轴范畴,非傍轴FG光束的M2因子不仅与阶数N有关,而且与w0/λ有关.按照定义,当w0/λ→0时,非傍轴FG光束的M2因子不等于0,对阶数N=1, 2, 3时,M2因子分别趋于0.913,0.882和0.886.当N→∞时,M2因子取最小值M2min=0.816.  相似文献   
20.
两种方法制备ITO薄膜的红外特性分析   总被引:7,自引:1,他引:6  
比较了用电束加热蒸发法和直流磁控溅射法制备的氧化锡铟(ITO)薄膜在红外波段的光学特性实验发现,通过直流磁控溅射在常温下制备的ITO薄膜在红外波段折射率稳定、消光系数小,比电子束加热蒸发制备的膜有较高的透过率在波长1550nm附近的透过率可达86%以上,消光系数约为004,方电阻最低为100Ω/□.  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号