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191.
192.
Propagation of phase-locked partially coherent flattened beam array in turbulent atmosphere 总被引:2,自引:0,他引:2
Analytical formulae for phase-locked partially coherent flattened beam array propagating in a turbulent atmosphere are derived based on the extended Huygens–Fresnel principle. Beam propagation factor (BPF) is introduced to evaluate the beam quality at the receiving plane. The influence of beam order, transverse coherence width length and the intensity of turbulence is discussed in detail. 相似文献
193.
194.
E. P. G. Smith G. M. Venzor M. D. Newton M. V. Liguori J. K. Gleason R. E. Bornfreund S. M. Johnson J. D. Benson A. J. Stoltz J. B. Varesi J. H. Dinan W. A. Radford 《Journal of Electronic Materials》2005,34(6):746-753
Inductively coupled plasma (ICP) using hydrogen-based gas chemistry has been developed to meet requirements for deep HgCdTe
mesa etching and shallow CdTe passivation etching in large format HgCdTe infrared focal plane array (FPA) fabrication. Large
format 2048×2048, 20-μm unit-cell short wavelength infrared (SWIR) and 2560×512, 25-μm unit-cell midwavelength infrared (MWIR)
double-layer heterojunction (DLHJ) p-on-n HgCdTe FPAs fabricated using ICP processing exhibit >99% pixel operability. The
HgCdTe FPAs are grown by molecular beam epitaxy (MBE) on Si substrates with suitable buffer layers. Midwavelength infrared
detectors fabricated from 4-in. MBE-grown HgCdTe/Si substrates using ICP for mesa delineation and CdTe passivation etching
demonstrate measured spectral characteristics, RoA product, and quantum efficiency comparable to detectors fabricated using
wet chemical processes. Mechanical samples prepared to examine physical characteristics of ICP reveal plasma with high energy
and low ion angle distribution, which is necessary for fine definition, high-aspect ratio mesa etching with accurate replication
of photolithographic mask dimensions. 相似文献
195.
196.
197.
198.
199.
Changzhen Wang Steve Tobin Themis Parodos David J. Smith 《Journal of Electronic Materials》2006,35(6):1192-1196
The microstructure of p-n device structures grown by liquid-phase epitaxy (LPE) on CdZnTe substrates has been evaluated using
transmission electron microscopy (TEM). The devices consisted of thick (∼21-μm) n-type layers and thin (∼1.6-μm) p-type layers,
with final CdTe (∼0.5 μm) passivation layers. Initial observations revealed small defects, both within the n-type layer (doped
with 8×1014/cm3 of In) and also within the p-type layer but at a much reduced level. These defects were not visible, however, in cross-sectional
samples prepared by ion milling with the sample held at liquid nitrogen temperature. Only isolated growth defects were observed
in samples having low indium doping levels (2×1014/cm3). The CdTe passivation layers were generally columnar and polycrystalline, and interfaces with the p-type HgCdTe layers were
uneven. No obvious structural changes were apparent in the region of the CdTe/HgCdTe interfaces as a result of annealing at
250°C. 相似文献
200.
激光引信在降雨中的光束扩展特性 总被引:3,自引:1,他引:3
激光引信在降雨中工作时会受到雨滴的散射和衰减效应,使光束质量变差,回波能量减小,从而影响探测系统的性能。以蒙特-卡罗方法为基础,给出了激光在降雨中的传输模型,分析不同模拟条件下光束的扩展特性,并进行实验测试。由仿真分析可知,雨滴对光束的散射作用导致光斑扩散,从而光束能量密度减小,并且随着降雨强度、传输距离和光束发散角的增大,光子散射次数增多,光斑直径扩大,到达接收面的光子减少,光束能量衰减。实验测试结果与仿真计算基本一致,最大误差不超过4%,很好地验证了模型的准确性。 相似文献