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41.
陈光华 《物理》1995,24(4):243-246
介绍了非晶半导体薄膜的结构特点和在光电器件上的独特性能,给出了薄膜器件的发展水平和制膜技术、制膜设备的研究现状。  相似文献   
42.
43.
44.
45.
陈伟  石磊 《半导体学报》1996,17(5):376-379
本采用高频溅射方法,在抛光Si(111)衬底上制备出碳化硅薄膜,了薄膜的高温真空退火勺,实验表明,退火后的薄膜具有较淡理想的结晶取向和发光性质。  相似文献   
46.
47.
电子回旋共振(ECR)等离子体法广泛用于SiO_2、Si_3N_4膜等的低温CVD技术,以及MOS器件的微细栅极刻蚀技术。在ECR等离子体法中,由于低气压下生成高离子化的等离子体,故以低能量、大的离子电流照射而能持续进行表面反应,然而以往的技术无法实现高质量的薄膜工艺。由于用固体靶溅射,靶材供给容易,进而把上述技术作为基础,开发了ECR溅射技术。  相似文献   
48.
49.
杨乾声 《物理》1995,24(3):172-178
高温超导约瑟夫森结技术近年来发展很快,特别是台阶结、双晶结、双外延结、边缘结和邻近效应结等性能已达到实用水平,并应用于超导量子干涉器件、数字信号处理和高频有源器件中。文章介绍了这些结的技术和有关的应用。  相似文献   
50.
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