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131.
SCR器件在CMOS静电保护电路中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
静电放电(ESD)对CMOS电路的可靠性构成了很大威胁。随着CMOS电路集成度的不断提高,其对ESD保护的要求也更加严格。针对近年来SCR器件更加广泛地被采用到CMOS静电保护电路中的情况,文章总结了SCR保护电路发展过程中各种电路的工作机理。旨在为集成电路设计人员提供ESD保护方面的设计思路以及努力方向。  相似文献   
132.
电子设备产品的可靠性试验   总被引:5,自引:0,他引:5  
可靠性试验是可靠性工程最基本的内容和最重要的工作项目。本文对电子设备产品可靠性试验的技术基础、可靠性试验的特点和分类、电子设备产品可靠性试验的方案设计,以及可靠性试验数据的分析和处理方法作了一些介绍。  相似文献   
133.
平面凸点式封装(FBP)   总被引:1,自引:0,他引:1  
QFN工艺(Quad Flat No-lead)在封装过程中大多存在着焊线牢度不够、包封溢胶、切 割毛刺等缺陷,FBP(Flat Bump Package)的出现不仅很好地解决了QFN的缺陷,而且FBP产品 在SMT工艺中能表现出更优良的特性。文章主要介绍了FBP的设计思路、结构特点、主要工艺流 程、关键工艺和衍生产品等。  相似文献   
134.
The role of physical testing in product development is changing due to the requirements for faster new product development, reduced tolerance of failures in the field and the emergence of computer aided engineering (CAE) technologies. To be used most effectively, testing must be seen as an integral part of the process for reducing risks associated with new product introductions. Quality function deployment (QFD) and failure modes and effects analysis (FMEA) can be used to establish effective test and development plans that integrate the use of virtual and physical testing. By effectively integrating virtual and physical test technologies significant improvements in product performance can be achieved within shorter times and with reduced development and manufacturing costs. The approach was illustrated by a process of reducing in-cab noise during the design of a new truck.  相似文献   
135.
In this paper, we consider a BMAP/G/1 retrial queue with a server subject to breakdowns and repairs, where the life time of the server is exponential and the repair time is general. We use the supplementary variable method, which combines with the matrix-analytic method and the censoring technique, to study the system. We apply the RG-factorization of a level-dependent continuous-time Markov chain of M/G/1 type to provide the stationary performance measures of the system, for example, the stationary availability, failure frequency and queue length. Furthermore, we use the RG-factorization of a level-dependent Markov renewal process of M/G/1 type to express the Laplace transform of the distribution of a first passage time such as the reliability function and the busy period.  相似文献   
136.
山东水泥厂有限公司高温风机变频改造   总被引:1,自引:0,他引:1  
孔涌 《变频器世界》2007,(10):66-68
本文综述了高压变频器在水泥厂高温风机上的应用情况,对改造过程、改造前后的耗电情况进行了对比,结果表明交流变频调速器,以适用性强、可靠必体育馆、操作方便等优势,受到用户的好评。  相似文献   
137.
梁永红 《电子质量》1996,(12):14-14,11
介绍了静电影响电子产品质量的几种主要途径以及一些静电防护方法。  相似文献   
138.
测量不确定度的评定对我国大多数检测实验室而言 ,还处于尝试阶段 ,本文将本所开展这方面工作的评定步骤和方法 ,作一介绍 ,供大家讨论  相似文献   
139.
林萍  韩闯 《微电子学》2003,33(2):124-126
文章从粒子碰撞噪声检测(PIND)试验的原理入手,着重阐述了影构PIND试验的因素和提高PIND试验可靠性的途径。通过对PIND试验的波形分析来提高PIND试验的可靠性,使试验数据更客观、准确,以此来保证和提高产品质量。  相似文献   
140.
An experimental infrared method for the thermal characterisation of semiconductor devices during fast transient operation, in the range from a few microseconds and up to some milliseconds, is presented. The features which make it suitable and convenient, particularly for use with power electronics applications are pointed out; its time and space resolution are illustrated by means of properly chosen examples. The considered solution qualifies as a very versatile and powerful tool in many diverse lines of investigation.  相似文献   
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