耗材优化工艺试验研究

通过调研分析选取了三类耗材选型方案来进行工艺试验研究,主要包括焊膏、清洗剂和助焊剂,并且依托于典型的印制板以及元器件来完成试验件。基于方案中的耗材基础性能测试、印制板组件试验件焊点机械强度测试以及焊点微组织结构分析来完善耗材选型,优化匹配性设计,确定最终耗材型号,进一步提高焊点质量和可靠性。     

SMT/THT混装焊接技术综述

电子组装的高密度给传统波峰焊接技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的混装焊接技术不断涌现。与传统波峰焊情况不同,这些新型焊接技术可以保护表面贴装元件来实现对通孔元件焊接,大幅度降低生产工序和周期时间,印刷线路板的焊接质量也被提升。新的焊接工艺允许充分有效利用SMT贴装设备,消除对点胶机的使用。介绍了几种新型混装焊接技术的特点,可以确信这些新型焊接技术将会被更多地应用于电子组装上,并将非常具有竞争力。     

SMT／THT混装焊接技术综述

电子组装的高密度给传统波峰焊接技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的混装焊接技术不断涌现。与传统波峰焊情况不同,这些新型焊接技术可以保护表面贴装元件来实现对通孔元件焊接,大幅度降低生产工序和周期时间,印刷线路板的焊接质量也被提升。新的焊接工艺允许充分有效利用SMT贴装设备,免除对点胶机的使用。本文主要介绍了几种新型混装焊接技术的特点,可以确信这些新型焊接技术将会被更多地应用于电子组装上,并将非常具有竞争力。     

波峰焊连接器桥接正交试验分析

波峰焊过程中，桥接是常见的缺陷之一，96芯连接器也经常出现桥接现象。通过观察发现96芯连接器的桥接集中出现在最后两排引脚。对96芯连接器过波峰焊出现桥接现象的原因进行了分析，利用正交试验设计分析了各因子对桥接的影响程度，并对各因子对桥接的影响进行了定性分析。同时对托盘边缘到焊盘间距对桥接的影响进行了单独验证。最终为解决桥接问题提供了一些参考依据。     

IGBT模块回流焊工艺中预翘曲铜基板的研究

IGBT模块铜基板的平整度对于模块的可靠性至关重要,在工业生产中,往往会通过机械的方法使平整的铜基板预翘曲成凹形,从而达到使铜基板在回流焊之后变得平整目的.基于Anand粘塑性模型,通过有限元的方法建立回流焊工艺模型分析整个回流过程中铜基板翘曲变化.研究了DBC铜层图形对因回流引起的铜基板翘曲的影响,分析了铜基板预翘曲量对回流中基板翘曲变化的影响.研究结果表明,铜层图形对回流中铜基板翘曲的影响较小,预翘曲量的大小对回流中铜基板翘曲变化方向影响较小,回流中基板翘曲变化量近似为一常数.一种有效地分析回流焊工艺过程的方法被提出,为封装工艺工程师提供了重要参考,对工业生产具有重要的指导意义.     

纳米无铅焊料的研究进展

电子封装互连过程中,无铅锡基焊料是常用的连接材料。然而,由于其较高的熔点(210~240℃),在电子器件连接过程中需施加较高的回流温度,这不仅增加了电子组装过程中的能耗,也大大降低了器件的可靠性。纳米无铅焊料具有热力学尺寸效应,其熔点较块体材料有大幅度的降低,从而受到了越来越广泛的关注。综述了近年来国内外纳米无铅焊料的发展动态,介绍了常用的纳米无铅焊料的制备方法及影响纳米颗粒尺寸的因素,总结了纳米无铅焊料在应用和存放过程中所产生的问题,同时也对纳米无铅焊料未来产业化的实现提出了建议。     

有铅焊料焊接无铅BGA回流参数探索

航天电子产品尚未允许采用无铅焊接,而航天电子产品中采用的进口元器件多为无铅器件,因此需要对有铅焊料焊接无铅元器件进行研究。通过对无铅焊球和有铅焊料的焊接特性分析,设计数种回流参数,进行回流焊接试验,并对试验结果进行焊接分析,得出回流峰值温度为228℃~232℃,液相线(217℃)以上时间为50s~60s的回流曲线能较好完成有铅焊料对无铅BGA的焊接。     

Accelerated popcorn testing of high solder-reflow crack resistant molding compounds

In testing the resistance of a molding compound to popcorn failures after solder reflow, there are two basic options for shortening the moisture absorption phase: varying the severity of moisture exposure by varying the temperature and percent relative humidity or maintaining a constant humidity/temperature profile and varying the length of time the compounds are exposed. In addition, the total testing time can be accelerated by the choice of test method. There are three major measurement techniques for evaluating the extent of popcorn cracking: SAM testing; bubble chamber testing; and visual crack inspection. In this paper we will explore the effects of differing lengths of exposure time and the merits of different measurement techniques.A variety of epoxy resins, filler mixtures and adhesion additives were examined in semiconductor molding compounds for solder-reflow crack resistance (popcorn crack resistance). A limited comparison of molding compound high-temperature strength properties and extent of popcorn cracking suggests no strong positive correlation. On the other hand, factors that might have an impact on adhesion properties of the molding compound, such as low melt viscosity resins and putative adhesion additives, appear to have the greatest impact. A molding compound developed with these factors showed no internal or external cracks on 84 lead QFPs (29.2 × 29.2 × 3.68 mm) after 72 h of 85°C/85% R.H. and one 10 s solder dip at 260°C. Nor were any external cracks observed after 168 h of 85°C/85% R.H. and one solder dip. However, minor internal cracks were observed.The most data can be obtained by using bubble chamber testing for large numbers of parts and evaluating a smaller sample of the best of those compounds via SAM testing with crack extension analysis. The length of exposure time affected the parts as expected, with longer times being more severe. There did not appear to be a gradient effect or a threshold level. In general, 72 h allowed the greatest differentiation among the compounds tested for internal defects; external defects were not fully developed until 168 h of moisture exposure.     

如何以热饱和效应克服晶圆凸块回焊制程的问题

以热板式回流炉所特有之高速热饱和的优势,改善晶圆级封装中回焊制程热补偿不足之问题     

SMT在微波集成电路中的应用

本文论述了微波集成陶瓷基片焊接ＳＭＤ，ＳＭＣ出现的问题，并给予分析。提出了解决的措施。