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51.
针对传统运算放大器共模抑制比和电源抑制比低的问题,设计了一种差分输入结构的折叠式共源共栅放大器。本设计采用两级结构,第一级为差分结构的折叠式共源共栅放大器,并采用MOS管作为电阻,进一步提高增益、共模抑制比和电源电压抑制比;第二级采用以NMOS为负载的共源放大器结构,提高增益和输出摆幅。基于LITE—ON40V1.0μm工艺,采用Spectre对电路进行仿真。仿真结果表明,电路交流增益为125.8dB,相位裕度为62.8°,共模抑制比140.9dB,电源电压抑制比125.5dB。  相似文献   
52.
A low-drift, high PSRR and high-accuracy CMOS temperature-independent current reference, optimized for mixed-signal applications is presented. The topology is based on bootstrap current references that present a PSRR up to 60 dB, which is required for the proposed applications since they employ circuits where high-frequency switching noise is present. The proposed approach was successfully verified in a standard CMOS 0.35 μm process. The electrical simulations and laboratory measurements confirm that for a power supply between 2.7 V and 3.6 V and temperatures between −40 °C to 80 °C range, the proposed current reference exhibits an accuracy of ±0.5% and a mean relative temperature dependency of 62.5 ppm/°C.  相似文献   
53.
支知渊  唐威  魏海龙  季赛健  尤路 《微电子学》2016,46(6):746-749, 753
设计了一种可修调的高精度、低温漂、高电源电压抑制比的高阶温度补偿带隙基准电压源。在Brokaw型带隙基准电路结构的基础上,采用多晶硅电阻负温度系数补偿技术,可实现2阶曲率温度补偿,减小了基准电压的温漂;设计了电阻修调网络,保证了基准电压的高精度。电路基于标准双极工艺进行设计和制造,测试结果表明:在-55 ℃~125 ℃温度范围内,15 V电源电压下,基准源输出电压为2.5(1±0.24%) V,温度系数为1.2×10-5/℃,低频时的电源电压抑制比为-102 dB,静态电流为1 mA,重载时输出电流能力为10 mA。  相似文献   
54.
付鑫  冯全源 《微电子学》2016,46(6):750-753
基于0.18 μm BCD工艺,设计了一种新型的低功耗指数补偿带隙基准。对高温段进行指数补偿,降低温漂;利用预稳压技术,引入负反馈环路以提高基准的电源电压抑制比。经过HSPICE仿真验证,基准输出电压为1.233 V,-15 ℃~145 ℃温度范围内的温度系数为3×10-6/℃;低频时电源电压抑制比为-94 dB,供电电压在2.8~5 V变化时,基准输出电压的线性调整率仅为0.000 5%,当供电电源为2.8 V时,整体静态电流仅为3.8 μA。  相似文献   
55.
龙芬  丁林 《电子科技》2011,24(7):53-56
在实际应用电路时,噪声及波动经常不知不觉会引入到供电电压中,从而影响输出端电压。为使电路稳定,需消除或抑制所产生的噪声。文中讨论了3种改善放大器电路电源抑制比(PSRR)的方法:共源共栅方法、反馈技术、设计附加的能够减小电源对输出端电压增益影响的电路。通过3种技术的仿真数据输对比,其能维持较高的增益值,对有级联放大器的...  相似文献   
56.
李凯  周云  蒋亚东 《现代电子技术》2012,35(4):145-147,151
设计了一种带温度补偿的无运放低压带隙基准电路。提出了同时产生带隙基准电压源和基准电流源的技术,通过改进带隙基准电路中的带隙负载结构以及基准核心电路,基准电压和基准电流可以分别进行温度补偿。在0.5μmCMOS N阱工艺条件下,采用spectre进行模拟验证。仿真结果表明,在3.3V条件下,在-20~100℃范围内,带隙基准电压源和基准电流源的温度系数分别为35.6ppm/℃和37.8ppm/℃,直流时的电源抑制比为-68dB,基准源电路的供电电压范围为2.2~4.5V。  相似文献   
57.
介绍了ADC动态指标测试的常用方法和测试平台的基本组成,着重分析了对ADC性能测试时,输入采样时钟抖动对ADC动态性能的影响。同时还对测试信号频率和幅度的选择以及供电电源的指标与ADC动态的关系进行了详细分析。ADC测试平台的研究,对于ADC板卡设计及动态性能测试有一定的指导意义。  相似文献   
58.
传统设计中平衡温度时的带隙基准电压值是与工艺相关联的定值.主要基于通用的带隙技术讨论在CMOS工艺中基准产生的设计,在对基准产生原理与传统电路结构分析的基础上,设计出一种高PSRR输出可调带隙基准电压源.电路综合温度补偿、电流反馈和电阻分压技术,采用CSMC 0.5 tim CMOS混合信号工艺实现,并用Cadence的Spectre进行了仿真优化.仿真结果表明,带隙基准电压源在-15~80℃范围内输出为603.5 mV时的温度系数为6.84 × 10-6/℃,在1.8~5 V电路均可正常工作.流片后的测试结果验证了该方法的可行性,基准电压中心值可宽范围调整,各项性能参数满足设计要求.  相似文献   
59.
双极型高精度大负载电流集成电压基准源设计   总被引:1,自引:0,他引:1  
设计并实现了一种基于双极型工艺的2.5V高精度大负载电流集成基准电压源电路,通过对传统带隙基准电路的改进,设计中增加了电源电压分配电路、电流反馈电路和大电流驱动电路,实现高精度大负载电流的目标.通过Cadence软件平台下的Spectre仿真器对电路的温度系数、负载调整率、噪声、交流电源纹波抑制比、负载电流、启动时间等电参数进行仿真验证,得到了初始精度±0.5%,在-40~85℃范围内温度系数小于6×10-6/℃,负载电流0~50 mA,电源电压4.5~36 V,输出为2.5 V的集成电压基准源电路.该电路采用6 μm/36 VK极型工艺生产制造,芯片面积为1.7 mm×2.1 mm,具有过热保护、过流保护和反接保护功能.  相似文献   
60.
肖剑  任国栋 《半导体技术》2010,35(8):816-818
设计并实现了一种简单的、多输出的带隙基准电路,利用pnp型双极型晶体管作为射极跟随器驱动带隙基准,工作电流由与绝对温度成正比的电流源提供,并且设计了启动电路.基于CSMC 0.5μm工艺对电路进行了优化,仿真表明在全温度范围内基准电压变化2.72 mV,低频电源抑制比高于-100 dB,输出建立时间10μs;对降压型DC-DC电源芯片的直流和交流测试表明,基准工作稳定可靠.  相似文献   
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