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171.
基于深亚微米MOSFET的短沟道效应(迁移率退化、热载流子效应、体电荷效应、沟道长度调制效应等),提出了一种高频沟道噪声分析模型.该分析模型不仅具有较高的精确性,而且只包括MOSFET的工艺参数和电学参数,不含有微积分和拟合参数,较大地提高了MOSFET高频噪声模型的易用性.根据MOSFET的高频等效电路,得出了MOSFET的噪声系数模型.实验结果证明,提出的深亚微米MOSFET高频噪声模型的仿真结果与测试结果的平均误差不到0.4 dB,并与其他高频沟道噪声分析模型进行了比较. 相似文献
172.
介绍VDMOS阈值电压的定量计算及氧化层厚度对他的影响,及VDMOS的氧化层厚度与特征电阻RONA的关系,讨论了栅氧化层的厚度对特征电阻的影响并进行了简单计算。此外,讨论了最新的VDMOS结构和制造技术,对器件阈值与特征电阻进行了优化。 相似文献
173.
在开发图像显示程序以及视频应用程序时,常常需要全屏显示特性。介绍如何实现图像的全屏显示,以及在非全屏下,如何实现对任一图像的完整显示,并提供了相应的快捷切换键,同时也实现了对任一图像的完整打印算法。本文涉及的算法主要是针对真彩色图像进行处理的,考虑处理速度上的要求,在全屏显示算法中采用了最邻近插值算法进行图像缩放变换。综合比较证实这种算法比较适用。 相似文献
174.
175.
T. Rudenko V. Kilchytska N. Collaert M. Jurczak A. Nazarov D. Flandre 《Solid-state electronics》2007,51(11-12):1466
In this work, the gate-to-channel leakage current in FinFET structures is experimentally studied in comparison with quasi-planar very wide-fin structures, and as a function of the fin width. Devices with both doped and undoped channels and different gate stacks are studied. Experimental evidence for the reduction of gate tunneling current density in narrow FinFET structures compared to their counterpart quasi-planar structures is reported for the first time. This gate current reduction is observed for both n-channel and p-channel devices and is found to be stronger for HfO2 than for SiON. For a given gate dielectric, the above gate current improvement in FinFETs enhances with decreasing the fin width. For SiON with an equivalent oxide thickness of 1.6 nm in undoped n-channel devices, it varies from factor of 2.3–4.3, when the fin width decreases from 75 to 25 nm. The possible reasons for the observed effect are discussed. 相似文献
176.
177.
ZHOU Bin ZHANG Yang-an HUANG Yong-qing REN Xiao-min 《半导体光子学与技术》2007,13(4):268-271
In this paper, we present the evolution of reconfigurable optical add drop multiplexer(ROADM) technologies, and compare three main ROADM architectures available on the market today. Three archhectures include broadcast-select and demux-switch-mux[and the integrated version planar lightwave circuit(PLC)] and wavelengths-selective switch. 相似文献
178.
根据以太网交换机的测试需求,考虑以太网交换机的技术特点,研究了以太网交换机的性能测试、功能测试、协议一致性测试、和稳定性测试等测试方法。 相似文献
179.
180.
T. Ferrus R. George C.H.W. Barnes N. Lumpkin D.J. Paul M. Pepper 《Physica B: Condensed Matter》2007,400(1-2):218-223
Sodium impurities are diffused electrically to the oxide-semiconductor interface of a silicon MOSFET to create an impurity band. At low temperature and at low electron density, the band is split into an upper and a lower sections under the influence of Coulomb interactions. We used magnetoconductivity measurements to provide evidence for the existence of Hubbard bands and determine the nature of the states in each band. 相似文献