全文获取类型
收费全文 | 1539篇 |
免费 | 207篇 |
国内免费 | 204篇 |
专业分类
化学 | 41篇 |
晶体学 | 1篇 |
力学 | 193篇 |
综合类 | 1篇 |
数学 | 31篇 |
物理学 | 180篇 |
无线电 | 1503篇 |
出版年
2024年 | 5篇 |
2023年 | 12篇 |
2022年 | 17篇 |
2021年 | 31篇 |
2020年 | 27篇 |
2019年 | 10篇 |
2018年 | 24篇 |
2017年 | 58篇 |
2016年 | 60篇 |
2015年 | 55篇 |
2014年 | 69篇 |
2013年 | 88篇 |
2012年 | 76篇 |
2011年 | 148篇 |
2010年 | 109篇 |
2009年 | 122篇 |
2008年 | 125篇 |
2007年 | 168篇 |
2006年 | 161篇 |
2005年 | 126篇 |
2004年 | 124篇 |
2003年 | 171篇 |
2002年 | 84篇 |
2001年 | 49篇 |
2000年 | 17篇 |
1999年 | 7篇 |
1998年 | 4篇 |
1997年 | 1篇 |
1996年 | 1篇 |
1995年 | 1篇 |
排序方式: 共有1950条查询结果,搜索用时 31 毫秒
101.
This paper presents a novel compact meta-structure microstrip balun, which is characterized by left-handed properties. In the novel structure, two coupled meander lines are used to generate series capacitor and series inductor. Compared with conventional composite right/left-handed transmission-line structures, the new structure has smaller size and is easily fabricated by MEMS (Micro Electromechanical Systems) technology. Using such a meta-structure, a wide band microstrip balun is designed and fabricated. Good performance in phase error in wide pass band has been achieved. 相似文献
102.
环境测温二极管在工作时受传感器芯片热场影响,常引发MEMS热式风速风向传感器加热电压-风速曲线异常。将其更换为外置测温二极管,并调整其与传感器芯片距离,成功解决了输出曲线异常现象。并在此基础上,优化芯片及外置测温二极管的封装方案,消除了热场的相互干扰和不必要的热损耗,同时保证了外置测温二极管与空气的良好接触。风场测试结果表明,传感器的加热电压-风速曲线变得平滑,且重复性好,风速和风向的测量误差分别在±4%和±4°以内,系统的上电稳定时间大幅缩短至15 s左右。 相似文献
103.
Extending Fault-Based Testing to Microelectromechanical Systems 总被引:2,自引:0,他引:2
As stable fabrication processes for MicroElectroMechanical Systems (MEMS) emerge, research efforts shift towards the design of systems of increasing complexity. The ways in which testing is going to be performed for large volume complex devices embedding MEMS are not known. As in the microelectronics industry, the development of cost-effective tests for larger systems may well require test stimuli targeting actual faults, developing fault lists and fault models for realistic manufacturing defects and failure modes, and using fault simulation as a major approach for assessing testability and dependability. In this paper, we illustrate how fault-based testing can be extended to MEMS, both for bulk and surface micromachining technologies, making possible the reuse of analog testing techniques. 相似文献
104.
105.
106.
107.
一年一度的Globalpress电子技术峰会近日在美国硅谷地区召开,多家半导体厂商带来最新的技术信息和设计理念. 相似文献
108.
随着光通信技术的发展,特别是光波分复用(WDM)技术的广泛应用,光交叉连接技术(OXC)和光分插复用技术(OADM)受到了越来越多的关注。波长选择器件因具有对不同波长自由选取的功能而在以上两种技术中起到了十分重要的作用。本文介绍了目前研究的几种典型的波长选择器件,对它们的特点进行了分析和比较。 相似文献
109.
为了解决MEMS封装过程中易对微致动件造成损伤的问题,提出了一种低成本、与CMOS工艺兼容的晶圆级薄膜封装技术,用等离子体增强化学气相淀积(PECVD)法制备的低应力SiC作为封装和密封材料。此材料的杨氏模量为460 GPa,残余应力为65 MPa,可使MEMS器件悬浮时封装部位不变形。与GaAs,Si半导体材料相比,SiC具有较佳的物理稳定性,较高的杨氏模量等性能优势。将PECVD薄膜封装技术用于表面微结构和绝缘膜上Si(SOI)微结构部件(如射频开关、微加速度计等)封装中,不仅减小了封装尺寸,降低了芯片厚度,简化了封装工艺,而且封装芯片还与CMOS工艺兼容。较之晶圆键合封装方式,此晶圆级薄膜封装成本可降低5%左右。 相似文献
110.