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992.
由中国光学学会和中国电子学会联合召开的第四届全国光电器件学术讨论会,于1989年7月24日至28日在辽宁省兴城举行.来自全国各科研、生产和高等院校等50个单位的114名代表参加了会议.大会共收到论文摘要106篇,在会上宣读论文65篇,书面交流论文11篇.这是自1983年召开的首届全国光电器件学术交流会以来,每隔两年召开一次的综合性学术年会,规模是最大的一次,因而受到全国光电器件专业各界的重视和注目,这也是近两年我国 相似文献
993.
本文重点介绍电荷耦合器件(CCD)的发展状况和最近出现的一些新器件的结构,如:虚相CCD摄象器;电荷引发器件摄象器;帧-行间转移CCD摄象器及具有三维集成电路雏型的叠层式CCD摄象器. 相似文献
994.
995.
996.
《电子材料与电子技术》2008,(4)
中心具有国际最先进的电磁兼容和电磁安全防护检测系统和一个专门用于防电磁信息泄漏材料、元器件测试的屏蔽室。可按照GB、GJB、SJ、/EC、MIL标准进行测试、试验及鉴定检验和质量一致性检验。 相似文献
997.
998.
Alexander Braun 《集成电路应用》2008,(9):43-43
在测试、组装和封装TechXPOT的“成品率管理”分会上,很多与会者展示了降低不断飞升的测试成本的重要性。总的来说,与会者都能就下述观点达成一致,即随着芯片复杂性的不断提高以及器件平均售价(ASP)的不断降低, 相似文献
999.