首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   14871篇
  免费   1770篇
  国内免费   1791篇
化学   505篇
晶体学   145篇
力学   45篇
综合类   50篇
数学   14篇
物理学   2871篇
无线电   14802篇
  2024年   70篇
  2023年   236篇
  2022年   290篇
  2021年   324篇
  2020年   193篇
  2019年   250篇
  2018年   144篇
  2017年   203篇
  2016年   234篇
  2015年   340篇
  2014年   796篇
  2013年   515篇
  2012年   848篇
  2011年   916篇
  2010年   765篇
  2009年   922篇
  2008年   1240篇
  2007年   977篇
  2006年   1015篇
  2005年   1176篇
  2004年   957篇
  2003年   919篇
  2002年   622篇
  2001年   573篇
  2000年   443篇
  1999年   361篇
  1998年   375篇
  1997年   379篇
  1996年   405篇
  1995年   362篇
  1994年   328篇
  1993年   236篇
  1992年   256篇
  1991年   234篇
  1990年   226篇
  1989年   208篇
  1988年   29篇
  1987年   10篇
  1986年   6篇
  1985年   7篇
  1984年   5篇
  1983年   5篇
  1982年   4篇
  1981年   17篇
  1980年   7篇
  1979年   3篇
  1973年   1篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
41.
HgCdTe红外探测器件是目前研究和使用的主要探测器件之一,pn结构是它的基本功能单元和提高性能的关键之一,由其列阵构成的焦平面是HgCdTe红外探测器件发展的重要方向。因此迫切需要一种方便可行的无损检测方法可以实现对焦平面列阵的在线信息反馈以及针对pn功能结构进行深入研究。激光束诱导电流(LBIC)即是一种以激光为  相似文献   
42.
43.
模拟器件     
  相似文献   
44.
文中主要介绍了叠盖电极技术在SPRITE探测器上的实际应用,并给出了具体实验结果。选择适当的叠盖电极尺寸可以使SPRITE的响应率Rυ提高一倍以上,探测率D^*普遍提高30%左右,高的可达80%。实验结果表明,叠盖电极技术明显地提高了SPRITE器件的性能,是一种简便的提高SPRITE性能的新途径。  相似文献   
45.
可编程模拟器件与技术新进展   总被引:5,自引:0,他引:5  
简述可编程模拟器件的基本原理、典型应用和开发方法,介绍并比较主要的模拟可编程实现技术与主流器件系列,指出现存的主要问题并展望其未来发展方向.  相似文献   
46.
现场可编程门阵列(FPGA)和编程工具介绍 0.6μCMOS工艺FPGA的推出是微电子工艺进步引起系统设计变革的一个非常成功的例子。它也是半定制门阵列的设计方法和现场用户可编程的设计要求结合的产物。由于FPGA的推动,系统集成单一的ASIC途径已经被越来越多的FPGA原型设计和嵌入式CPU Core和DSP Core的设计所补充。FPGA的设计方法至少在三个方面为系统用户提供了设计手段:一是把FPGA作为设计的原型验证;二是把FPGA作为储备设计的手段;三是把FPGA作为产品上市阶段的暂时采用的电路。一旦市场形势走俏,立即用MPGA的正式电路替代。  相似文献   
47.
NMOS器件两次沟道注入杂质分布和阈电压计算   总被引:1,自引:1,他引:0  
王纪民  蒋志 《微电子学》1997,27(2):121-124
分别考虑了深浅两次沟道区注入杂质在氧化扩散过程中对表面浓度的贡献。对两次注入杂质的扩散分别提取了扩散系数的氧化增强系数、氧化衰减系数和有效杂地系数,给出了表面浓度与工艺参数之间的模拟关系式,以峰值浓度为强反型条件计算了开启电压,文章还给出了开启电压、氧化条件、不同注入组合之间的关系式。  相似文献   
48.
荧光显示管直丝氧化物阴极有效逸出功的计算   总被引:1,自引:1,他引:0  
阴极的逸出功是表征阴极发射能力的物理量,求定荧光显示管直丝氧化物阴极有效逸出功时,因其零场发射电流密度难于准确取值,温度无法直接测量,显得困难,须予解决,为此提出了一种计算阴极有产逸出功的办法,对某显示管的发射欠佳和“低温高效”的两种氧化物阴极的有效逸出功进行计算,有效逸出功率是靠测量相关物理量再同计算得出,精度不很高,文中所用办法也不例外,但所得结果能反映阴极发射能力,所需仪器少,是实用方法。  相似文献   
49.
本文侧重讨论了院校新型CATV550MHz邻频传输系统的干线设计以及选用MOTOROLA MHW6342T器件来改善了干线放大器性能。  相似文献   
50.
深亚微米MOSFET衬底电流的模拟与分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
利用器件模拟手段对深亚微米MOSFET的衬底电流进行了研究和分析,给出了有效的道长度,栅氧厚度,源漏结深,衬底掺杂浓度以及电源电压对深亚微米MOSFET衬底电流的影响,发现电源电压对深亚微米MOSFET的衬底电流有着强烈的影响,热载流子效应随电源电压的降低而迅速减小,当电源电压降低到一定程度时,热载流子效应不再成为影响深亚微米MOS电路可靠性的主要问题。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号