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102.
PZT薄膜电滞回线测试的数值补偿研究 总被引:2,自引:0,他引:2
通过Sawyer-Tower测试电路研究了铁电薄膜的电滞回线,发现薄膜漏电阻以及示波器输入电阻和电容的影响可能会使所测量的电滞回线发生形状扭曲或者使测量结果出现较大偏差,通过数值补偿方法重建了电荷平衡方程,并编制了相应的软件补偿程序。通过对溶胶-凝胶制备的PZT铁电薄膜的电滞回线测试表明,运用该数值补偿方法可以有效补偿薄膜漏电阻以及示波器输入电阻和电容对测试结果的影响,满足PZT铁电薄膜制备技术以及微机电系统中器件设计对薄膜性能测试的要求。 相似文献
103.
104.
相序电路用来指示三相交流电的相位顺序正确与否。本文对该矢量电路进行了详尽分析,给出了50Hz和400Hz相序电路元件参数选取的合理取值。 相似文献
105.
C^3I系统性效比分析研究 总被引:1,自引:0,他引:1
提出一种比较全面的C^3I系统效能的模拟分析方法,从战场态势的角度模拟分析C^3I系统通信网性能对兵力效能的影响程度,提出改进C^3I系统性能的对策。 相似文献
106.
李显波 《电信工程技术与标准化》2003,(10):52-56
随着智能住宅的普及,电信参与智能化小区建设日益显现出其重要性。本通过对智能化小区进行介绍,论述了电信实施智能化小区建设的优势和问题。 相似文献
107.
薄膜的截面TEM样品制备 总被引:1,自引:0,他引:1
薄膜材料的厚度仅为微米量级或者更薄,对其微结构的研究十分困难,许多表征方法难以采用。透射电子显微分析(TEM)是薄膜材料微结构研究最重要的手段之一。尽管采用TEM平面样品研究薄膜的微结构在样品制备方面相对容易,但由于薄膜依附于基材生长,且通常具有择优取向和柱状晶生长等微结构特征,因而采用截面样品从薄膜生长的横断面进行观察和研究,可以得到更多的材料微结构信息。但是薄膜的TEM截面样品制备过程较为繁杂,难以掌握。已有的文献主要介绍了Si基片上生长薄膜的TEM截面样品制备方法,对金属基片薄膜截面样品的制备方法介绍不多。 相似文献
108.
本文依据目前广电面临电信和因特网的激烈竞争和利益分争,阐述了发展数字电视的必要性和紧迫性,提出了经济落后和欠发达地区推行数字电视的基本思路。同时应用经济学的相关理论对发展数字电视进行投资分析,对投资规模、成本测算、成本回收、风险预测与规避以及理性投资等敏感问题,提出了自己的见解。 相似文献
109.
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