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HfO2高K栅介质薄膜的电学特性研究 总被引:2,自引:1,他引:1
研究了高 K(高介电常数 )栅介质 Hf O2 薄膜的制备工艺 ,制备了有效氧化层厚度为 2 .9nm的超薄MOS电容。对电容的电学特性如 C-V特性 ,I-V特性 ,击穿特性进行了测试。实验结果显示 :Hf O2 栅介质电容具有良好的 C-V特性 ,较低的漏电流和较高的击穿电压。因此 ,Hf O2 栅介质可能成为 Si O2 栅介质的替代物。 相似文献
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EASE是当今世界最流行的计算机声学辅助设计软件,可预测声频系统的各种指标,但很多使用者在使用上对EASE的某些功能或概念不甚了解,并且对使用EASE的目的性不明确,认为使用EASE只是为了应付投标或客户的需要而已,忽略了EASE对实际的工程项目所具有的前瞻和指导意义。对使用EASE应注意的几个声学问题进行了阐述,例如常被人忽略的扬声器的各向相频数据对干涉的影响、如何获得更符合实际的混响时间数值等。并明确了EASE实用化的前提条件和指导意义。 相似文献
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为使均匀圆阵能进行相关信号的全方位DOA估计及提高系统性能,论文利用基于自适应天线 理论方向图综合技术的子圆阵构成复合式测向均匀圆阵,再运用混合DOA估计方法进行DOA估计。仿 真结果证明复合式测向均匀圆阵在一定程度上使分布区域较广的相关信号的DOA估计成为可能;增加了 可检测的信源数目;提高了系统抗干扰能力及分辨率、使系统判模糊能力增强,稳健性能增加。 相似文献
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超薄栅氧化层中的软击穿的击穿机理和击穿模型 总被引:1,自引:0,他引:1
软击穿是与氧化层质量密切相关的一种新的击穿形式。当氧化层厚度小于5nm时,软击穿效应显著,是超薄栅氧化层的主要失效机理。通过对国外软击穿研究状况的分析,对超薄栅氧化层中软击穿的失效模型和机理进行了综述。 相似文献
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