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941.
介绍了利用硅、熔融石英和聚酰亚胺等材料制作折射和衍射微透镜阵列的工艺和结果,以及这些微透镜阵列分别与红外、可见光图像传感器的集成应用.微透镜与红外256×256PtSiCCD的集成结果表明,微透镜填充系数提高了2.3倍,成像质量明显改善.  相似文献   
942.
HfO2高K栅介质薄膜的电学特性研究   总被引:2,自引:1,他引:1  
研究了高 K(高介电常数 )栅介质 Hf O2 薄膜的制备工艺 ,制备了有效氧化层厚度为 2 .9nm的超薄MOS电容。对电容的电学特性如 C-V特性 ,I-V特性 ,击穿特性进行了测试。实验结果显示 :Hf O2 栅介质电容具有良好的 C-V特性 ,较低的漏电流和较高的击穿电压。因此 ,Hf O2 栅介质可能成为 Si O2 栅介质的替代物。  相似文献   
943.
龚惠哲 《电声技术》2004,(10):11-13,50
EASE是当今世界最流行的计算机声学辅助设计软件,可预测声频系统的各种指标,但很多使用者在使用上对EASE的某些功能或概念不甚了解,并且对使用EASE的目的性不明确,认为使用EASE只是为了应付投标或客户的需要而已,忽略了EASE对实际的工程项目所具有的前瞻和指导意义。对使用EASE应注意的几个声学问题进行了阐述,例如常被人忽略的扬声器的各向相频数据对干涉的影响、如何获得更符合实际的混响时间数值等。并明确了EASE实用化的前提条件和指导意义。  相似文献   
944.
介绍了电视行业中的新热点--地面转播,分析了这一业务实现的技术难点与目前的实现状况.阐明了智能天线的定义、组成,介绍了多波束天线和自适应天线阵.并根据实际应用场合,给出了环形阵列的方向图分析方法与实例.  相似文献   
945.
基于薄膜结构的MEMS技术研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
报导了基于低应力自支撑SiNx薄膜结构的MEMS部分研究结果,包括从薄膜生长工艺、内应力和薄膜微观结构控制、薄膜的物性分析、镂空自支撑薄膜结构的工艺制作、自支撑薄膜结构动力学的有限元模拟、到最后镂空自支撑薄膜结构在MEMS系统中的应用所做的部分研究工作。  相似文献   
946.
一种新的天线阵列位置误差校正算法   总被引:9,自引:4,他引:5  
天线阵元的位置误差会影响天线阵元所接收到信号的相位.基于特征值分解的波达方向算法对信号的相位误差非常敏感,因此有必要对阵元的位置误差所带来的接收信号相位误差进行校正.提出了一种基于噪声子空间的最优化算法能有效的校正直线阵列的位置误差.与原方法相比,该算法的优化参数仅为原来的一半,提高了梯度优化算法的收敛速度.数值计算结果表明该算法是有效的.  相似文献   
947.
为使均匀圆阵能进行相关信号的全方位DOA估计及提高系统性能,论文利用基于自适应天线 理论方向图综合技术的子圆阵构成复合式测向均匀圆阵,再运用混合DOA估计方法进行DOA估计。仿 真结果证明复合式测向均匀圆阵在一定程度上使分布区域较广的相关信号的DOA估计成为可能;增加了 可检测的信源数目;提高了系统抗干扰能力及分辨率、使系统判模糊能力增强,稳健性能增加。  相似文献   
948.
超薄栅氧化层中的软击穿的击穿机理和击穿模型   总被引:1,自引:0,他引:1  
软击穿是与氧化层质量密切相关的一种新的击穿形式。当氧化层厚度小于5nm时,软击穿效应显著,是超薄栅氧化层的主要失效机理。通过对国外软击穿研究状况的分析,对超薄栅氧化层中软击穿的失效模型和机理进行了综述。  相似文献   
949.
出纤功率30W的激光二极管线列阵光纤耦合器件   总被引:2,自引:0,他引:2  
用一根柱透镜对大功率半导体激光器线列阵输出光束的快轴方向进行准直 ,准直后的光束耦合到光纤列阵中 .大功率半导体激光二极管线列阵的输出功率为 4 0 W,线列阵有 19个发光单元 ,每个发光单元的发光区面积为10 0μm× 1μm .大功率激光二极管线列阵耦合后出纤功率为 30 W,耦合效率为 75 % ,光纤的数值孔径为 0 .11  相似文献   
950.
硼离子选择注入制备多孔硅微阵列   总被引:1,自引:0,他引:1  
根据 p型硅和 n型硅不同的制备多孔硅的工艺条件 ,利用硼离子选择注入 ,在 n型硅片上的局部微区域 ,形成易于腐蚀的 p型硅 ,用电化学腐蚀方法制备出图形化的多孔硅阵列 .省去了传统掩膜腐蚀工艺的掩膜材料的选取与制备以及后道工艺中掩膜材料的清除等工艺 ,克服了掩膜材料掩蔽效果较差以及存在横向钻蚀等缺点 .通过 AFM,SEM测试 ,证明该方法的效果很好  相似文献   
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