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51.
52.
F. C. Peiris M. R. Buckley O. Maksimov M. Munoz M. C. Tamargo 《Journal of Electronic Materials》2003,32(7):742-746
We have used a combination of prism-coupling, reflectivity, and ellipsometric techniques to investigate the indices of refraction,
n, of a series of BexZn1−xTe thin films grown on InP substrates. After determining the concentrations of each of the BexZn1−xTe alloys using x-ray diffraction measurements, we measured their n at discrete wavelengths using a prism-coupler setup. In
addition, we used reflectivity measurements to complement the prism-coupler data and arrive at the dispersion relations of
n for the BexZn1−xTe alloys below their fundamental energy gaps. We then employed a rotating analyzer-spectroscopic ellipsometer to measure
the complex reflection ratio for each of the films at angles of incidence of 65°, 70°, and 75°. By using the n values obtained
from both the prism-coupler and the reflection-spectroscopy techniques to guide the ellipsometric analysis, we were able to
obtain accurate results for the dispersion of n for the BexZn1−xTe alloys, not only below their fundamental energy gaps, but also above their energy gaps (up to 6.5 eV) using these three
complementary techniques. 相似文献
53.
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55.
56.
57.
高透射比紫外偏光棱镜 总被引:2,自引:1,他引:1
报导一种由方解石和氟化钙晶体制成的棱镜在紫外区有非常高的透射比。通过精挑方解石,透射范围可到达0.21μm。 相似文献
58.
59.
本文以格兰·泰勒棱镜为例,给出了任意入射面上的视场角计算公式,分析了视场角与入射面方位的关系,为高精度棱镜的测量和棱镜特征参量的精确标定提供了依据。 相似文献
60.
根据多光束干涉原理,理论上分析了棱镜-漏波导耦合器,且与棱镜-波导耦合器作了比较,给出正确使用这两种耦合器的判据.分析结果表明,在强耦合条件下,棱镜-漏波导耦合器可用于薄膜参数测量和光波导输入-输出耦合;对于弱耦合,本文的结果与Tien和Ulrich的理论一致. 相似文献