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本文介绍了环境试验设备的产品数据管理系统(PDM)与企业资源管理软件(ERP)间数据转换软件的实现方法。 相似文献
162.
本文介绍了新建的北京电话号码查询系统,内容包括系统配置、工作流程以及排队机、查询数据库、管理系统和系统连接功能等特点,并介绍了系统可拓展的业务。 相似文献
163.
Joseph A. Scalise 《Microelectronics Reliability》1998,38(3):353
Microcircuit package qualification testing is used to establish the reliability of integrated circuit processes and devices as they relate to part packaging. This paper presents the results of package qualification tests conducted on plastic encapsulated microcircuits (PEMs) and plastic discrete devices (diodes, transistors) used in avionics applications. Highly accelerated stress test (HAST) and temperature cycle (TC) test results, including part failure mechanisms and associated failure rates, are provided. A variety of plastic package styles and integrated circuit functions have been tested. Examples of package styles tested include small outline (SO), plastic leaded chip carrier (PLCC), thin small outline package (TSOP), plastic quad flat package (PQFP) and plastic dual-in-line (PDIP).Manufacturers' devices have been evaluated and various plastic compounds have been compared to determine which provide optimum reliability. The testing showed that package qualification performance of PEMs is affected by type of compound, passivation (including die coat) and die size. HAST failures are caused by moisture penetration of the package while temperature cycle failures result from coefficient of thermal expansion (CTE) mismatch effects. 相似文献
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165.
本文根据使用经验对溶剂清洗设备的安全、环保等方面存在的缺欠提出了可行的改进方案,使溶剂清洗设备的结构趋于完善,并提供了安全、环保等方面的保障,既保护了操作人员的身体健康,又避免了对环境的破坏。 相似文献
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167.
We present an analysis of test application time for test data compression techniques that are used for reducing test data volume and testing time in system-on-a-chip (SOC) designs. These techniques are based on data compression codes and on-chip decompression. The compression/decompression scheme decreases test data volume and the amount of data that has to be transported from the tester to the SOC. We show via analysis as well as through experiments that the proposed scheme reduces testing time and allows the use of a slower tester. Results on test application time for the ISCAS'89 circuits are obtained using an ATE testbench developed in VHDL to emulate ATE functionality. 相似文献
168.
169.
关于飞行模拟器列装的几点认识和启示 总被引:1,自引:0,他引:1
对近年来国外飞行模拟装备现状和发展趋势进行了较详细的分析,并从中得出了若干认识和启示。 相似文献
170.
本文面向变频器使用的用户、从事变频器应用和系统设计维护人员、销售人员、维修人员。文中介绍了变频器的原理、森兰变频器的基本系列、附加配套设备的选用、安装技术和禁忌、与周边设备的关系、安装后的调试、操作使用方法、日常维护保养、常见故障检查、判断处理、以及典型应用事例。 相似文献