一种基于VXI总线的数据采集和信号处理系统

近年来提出和迅速发展的VXI总线，为虚拟仪器概念的发展和实现提供了一个比较理想的环境，代表着自动测试领域的发展方向。本文简要分析了VXI总线的技术背景和内涵，讨论了虚拟仪器的概念和实现方法，并简要介绍了本文作者开发的一套基于VXI总线的虚拟仪器系统。     

基于硬件规范信息的测试设备设计

在介绍一种多对象适用自动检测设备硬件结构的基础上,详细叙述了该自动检测设备应用软件设计时将被测对象信息、检测设备硬件平台同被测对象间的硬件关联信息相对于测控程序进行分离并规范的思路及方法。通过硬件规范信息库的构建,该自动测试设备测控程序大大地减少了对检测设备与多被测对象硬件的关联性,具有一对多、易于扩充的优点。     

基于PXI的机载设备检测系统设计

介绍了一种基于PXI总线虚拟仪器技术的机载设备自动检测系统的设计方法．叙述了自动检测系统的基本体系结构的组成,详细介绍了自动检测系统的硬件平台和软件平台的构建及其功能     

一种基于自动测试设备的可编程逻辑

本文讨论了具有边界扫描接口的可编程逻辑器件在线编程模型建立的途径,并以BC3192V50高速数模混合测试系统为平台,介绍了ALTERA公司的EPM7512在线编程以及测试过程。本文论述的在线模型建立方法适用于一切通过边界扫描链进行配置的大规模集成电路,为可配置集成电路的测试提供了前提条件。该方法经BC3192集成电路测试系统使用结果表明是有效的。     

A Very Efficient Redundancy Analysis Method Using Fault Grouping

To increase device memory yield, many manufacturers use incorporated redundancy to replace faulty cells. In this redundancy technology, the implementation of an effective redundancy analysis (RA) algorithm is essential. Various RA algorithms have been developed to repair faults in memory. However, nearly all of these RA algorithms have low analysis speeds. The more densely compacted the memory is, the more testing and repair time is needed. Even if the analysis speed is very high, the RA algorithm would be useless if it did not have a normalized repair rate of 100%. In addition, when the number of added spares is increased in the memory, then the memory space that must be searched with the RA algorithms can exceed the memory space within the automatic test equipment. A very efficient RA algorithm using simple calculations is proposed in this work so as to minimize both the repair time and memory consumption. In addition, the proposed algorithm generates an optimal solution using a tree‐based algorithm in each fault group. Our experiment results show that the proposed RA algorithm is very efficient in terms of speed and repair.     

航空电子自动测试设备的开发与实现

简要说明了组建通用航空电子自动测试设备的基本要求和目标．描述了典型测试设备的应用现状．介绍了ATE测试设备的组成、PAWS软件平台的组成和体系结构,以及ATLAS语言的语言特征,探讨了用PAWS开发自动测试系统的方法,并举例详细说明了在测试程序集TPS开发中的资源描述和自动资源配置过程．展望了ATE的未来发展趋势．     

功能测试矢量的重排与测试时间的压缩

对于集成电路测试而言,测试时间与成本直接相关,减少测试所需的时间意味着测试成本的降低。对于大型的测试矢量集,由于ATE存储器大小的限制,无法一次装载所有的测试矢量,需要多次的loadunload过程,从而浪费了大量的时间。通过测试矢量顺序的优化可以有效地减少重载次数而大大降低测试所需时间。应用模拟退火算法可以对测试矢量顺序进行全局的优化,得到该问题的近似最优解。     

基于UltraFlex系统进行LVDS接口芯片的测试方法

高速接口通常采用差分信号实现,LVDS接口可以满足高速信号传输,对具备LVDS接口芯片的测试方法与单端信号的测试有较大差别。描述了如何使用UltraFlex测试系统进行LVDS接口芯片的测试方法,包括通道分配、测试接口板设计和相关测试设置等内容。此方案已经应用于800 Mbps多路LVDS输入和输出接口的测试。     

CDMA分组数据网络的演进

介绍了支持UMB空中接口的分组数据网络演进技术ATE,并对ATE的网络架构、网络逻辑实体功能以及基本操作和功能进行了介绍。     

基于混合推理模式的电路故障诊断系统

针对电路单元的自动测试问题,采用二叉树来表示经验知识中电路测试点的因果关系,并采用人机交互的方式将功能知识和专家经验知识输入到知识库中。提出了一种利用混合推理机模式进行故障诊断的专家系统,采用故障字典与产生式规则相结合的知识库表示方式,解决了专家系统知识库开发与故障诊断速度之间的矛盾。实践表明,该专家系统简便易用、开发速度快,具有较高的使用价值。