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991.
992.
通过对STL三角网格模型和X3D语法规范的分析与研究,根据X3D对三角形的相关定义和描述,提出了一种将STL三角网格模型转换为X3D格式的算法。该算法在实现将STL转化为X3D的同时,又完成了对STL文件中冗余数据的处理,使得转换后的X3D文件大小相当于原来STL文件大小的1/7左右,非常有利于三角网格模型在网络上的传输和操作。最后,以Java作为开发系统平台,运用Java3D及其装载器组件实现了转换后的X3D的装载和浏览,从而使STL文件可以在Internet环境下实现产品信息共享和可视化的操作。 相似文献
993.
描述了2-4GHz、8-12GHz的SPDT和8-12GHz的SP3T大功率PIN开关的设计方法、实现过程和测试结果。其连续波功率最大可承受80W,插入损耗小于1.8dB,,隔离度大于25dB,驻波比小于1.8,开关时间小于1us具有功率容量大,工作频带宽、可靠性高,成本低,调试简单等特点。 相似文献
994.
为了更全面、系统地分析Si基Pinned型光电二极管(PPD,pinned photodiode)量子效率的工艺敏感特性,基于考虑表面(SRH,shockley-read -hall)复合率模型的时域有限差分数值模拟方法,对不同P+型表面层和P型外延(EPI,e pi taxial)层工艺条件下PPD可见光谱量子效率的变化特征及物理机制进行了研究。结果表明 ,P+型表面层离子束注入剂量和注入能量的增加分别引起非平衡载流子SRH复合率升高和 PPD势垒区顶部下移,均可导致低于500nm波段量子效率的衰减,而 后者进一步引起的势垒区纵向宽度缩 减使该影响可持续至650nm波段;P型EPI掺杂浓度增加引起PPD势垒 区底部上移,导致500~750nm 波段量子效率的衰减;P型EPI厚度增加引起衬底强SRH复合区光电荷比重降低,导致高于700 nm波段量 子效率得到提升并趋向饱和。通过分析发现,Si基材料中光子吸收深度对波长的强依赖关系 是导致两种P型 掺杂区工艺条件对量子效率存在波段差异性影响的根本原因。 相似文献
995.
薄膜光学常数的精确测定对于设计和制备多层薄膜具有重要意义。在JGS1型熔融石英基底上,采用热蒸发沉积方法制备了不同厚度的LaF3单层薄膜样品,利用光度法来获取弱吸收薄膜和基底的光学常数,计算得到其在185~450nm范围内折射率n和消光系数k的色散曲线。实验结果表明,当膜层厚度较薄时,LaF3薄膜折射率表现出不均匀性现象。随着薄膜厚度的增加,薄膜折射率不均匀性减小。在求解过程中选用不均匀模型后,拟合结果与实际测试光谱曲线吻合得很好,提高了薄膜光学常数的计算精度。 相似文献
996.
使用扫描电镜-能谱分析技术在10kV/1nA条件下分别对微束分析国家标准样品、K411玻璃微球和自制的颗粒标准样品进行了测试,并用CASINO程序对其进行了元素定量计算,以检验蒙特卡罗模拟在单颗粒分析中的适用性。研究结果表明:(1)无论是块状还是颗粒标准样品,CASINO程序给出的定量计算结果总体上都明显优于能谱仪自带的XPP程序;(2)相比归一化法,CASINO程序能显著地校正颗粒效应;(3)对于Cu、Zn等KαX射线荧光产额较低的元素,在其含量较低时最好使用Lα线进行定量计算;(4)对于Cr2O3等存在严重谱线重叠的样品,进行相应的重叠校正也可得到较为准确的定量计算结果。 相似文献
997.
H.264视频编码标准中引入了1/4像素精度插值算法,大大提高了压缩效率,但同时使运算复杂度增加、存储带宽增大。针对以上问题,从运动估计的角度出发,采用一步插值法和数据复用技术,可使带宽减少26%,处理周期可减少45%;设计了相应的硬件结构:采用了5级流水线实现一步插值算法,通过输入缓冲单元实现了参考数据的复用;针对插值过程中产生的大量数据,采用乒乓操作结构,保证数据及时传递。该结构可以显著降低带宽,提高吞吐率,完全可以应用于实时编码器中。 相似文献
998.
999.
1000.
图像去模糊一直是图像修复中的重要问题,针对经典的去模糊方法,提出一种耦合非凸lp(0≤p<1)范数和G范数的图像去模糊方法。该方法利用lp(0≤p<1)范数作为正则项约束,保证了图像的稀疏性要求;利用G范数作为保真项,保证在去模糊的同时有效抑制噪声并保持图像的细小特征,同时也给出新方法基于交替最小化的有效算法。实验结果表明新模型是可行的。 相似文献