厚膜微带技术研究

本文论述了制作厚膜微带电路的工艺技术途径，并对其膜层的致密性作了进一步的研制，研制的样品在11GHz下进行微波性能测试，表现出良好的特性。     

模型外载与自重并存变动外载的光弹性分析法

提出一个变动模型外载，分析大模型在外载与自重共同作用时的尤弹性法。它与用离心力模拟自重试验的传统方法完全不同，只要在大模型上变动外载，就可以获得上述两种载荷共同作用下的应力分析结果。此法避免了用离心模型自重受模型尺寸限制等诸多因素影响的缺点，为自重不可的大型复杂空间工程结构模型试验应力分析提出了一条新的途径。文中给出了本方法的基本原理及其简要的实验验证和工程应用结果。