大动态范围高精度激光透射率测量系统

透射率在光学领域中有着重要的用途,为了精确 的测量物体的透过率,本文基于自 相关检测原理设计了一套大动态范围高精度激光透射率测量系统,在分析噪声的基础上,计 算了最小可探测光功率,确定了测量的动态范围;同时分析计算了系统信噪比改善程度,最 终实现高精度测量。本文以635nm半导体激光器为光源,使用光电二极管为探测器,采用锁 相放大器对微弱探测信号的提取和对干扰信号的抑制,搭接了测量系统,通过分析计算得到 待测样品的透过率,并通过改变信号调制频率和锁相放大器的时间常数来观察其对信噪比影 响,最终选择调制信号频率在1000 Hz,锁相放大器时间常数为30ms 的情况下测量,实验表明 ,系统可测量透射率的范围为0.000%~100%,测量误差范围为1%。 对于其它波长或其它微弱信号构成的测量系统的动态范围和精度的分析具有借鉴意义。     

对基于拼接干涉术的同步辐射镜测量技术的研究

随着同步辐射光源和自由电子激光器相关技术的发展和光束质量的提升,对用于转递和聚焦光束能量的X光反射镜的指标要求也逐渐提高。为避免引入额外的波前误差,反射镜面形高度误差均方根值的要求已逼近至亚纳米量级。如此苛刻的面形要求对X光反射镜的测量工作带来了极大的困难和挑战。除了在各国同步辐射光源得到广泛使用的长程轮廓仪等基于角度测量的轮廓扫描仪器之外,基于激光干涉仪的拼接干涉技术也发展为测量同步辐射镜的一种有效手段。文中主要介绍了近期笔者等为测量X光反射镜而开发的拼接干涉平台。利用这一测量平台,研究了在不同的拼接参数下的多种拼接模式。着重讲述了其中纯软件拼接模式的基本原理和实际测量。用实测结果与不同测量仪器和不同研究机构的结果进行比对,验证了拼接干涉测量用于检测同步辐射镜的有效性,并展示了此拼接平台的测量表现。根据所得的测量数据看来,使用纯软件拼接模式来测量X光平面反射镜时,测量重复性的均方差值可以达到0.1 nm左右;而测量X光双曲柱面镜时(曲率半径的变化范围为50~130 m),测量重复性的均方差值为0.2~0.3 nm。此结果基本满足平面和接近平面(曲率半径大于50 m)的同步辐射镜常规检测和为确定性加工提供面形反馈的需要。     

化学镀银板剥银后铜面产生微空洞的研究

化学皱银工艺已经成为印制电路板主要的最终表面处理方式之一,在制程中化银板的主要报废有腐蚀、露铜、离子污染、微空洞。文章重点研究泊是在剥离银后,铜面微空洞的产生原因和预防控制手段。     

一种高精度Σ-ΔA/D转换器的数字滤波器设计

本文设计并实现了一种适用于高精度Σ-ΔADC的低资源数字滤波器。该滤波器采用多级多采样率结构,由级联梳妆滤波器(CIC)、FIR补偿滤波器以及半带滤波器级联组成。此外,为节约资源,采用乘法器时分复用和CSD编码技术,以降低面积和功耗。基于SIMC 0.18um工艺,对电路进行仿真。仿真结果表明,工作频率6.144MHz,带宽20KHz时,可以实现128倍信号抽取,输出信号信噪比可达16位以上。与同类型抽取滤波器相比,本设计具有高精度、低功耗的优点。     

一种基于MEC的RTK高精度定位基准站架构

文章提出了一种基于MEC的RTK基准站架构.在该架构里,RTK基准站与网络边缘计算服务器相结合,RTK基准站通过网线将RTK差分信号端对端的传输给MEC服务器,实现一个MEC服务器与一个RTK基准站对应,MEC直接向区域中所有车辆加密广播差分信号.在节约成本和减少时延的同时,保证了RTK信息的安全传输,减少了RTK基准站下发的差分信号和流动站的时延,提高了定位信息的安全保密性.