一种新的阻抗计型晶体测试仪

本文介绍了一种国内新型的阻抗计型晶体电参数测试仪，该仪器可在１￣６０ＭＨｚ频率范围内测量晶体的１０项电参数，其抗水平和性能指标达到国外同类产品的先进水平。     

强折射轴对称流场的干涉再现方法

利用光学方法测量气体状态参数的关键在于确定气体折射率场的变化。光线通过稳定的非均匀折射率场时发生偏折，并且在强折射对称场中会产生交叉，使得条纹位移量的判读困难。本文首先分析了光线在轴对称折射率场中的偏折效应，在此基础上，给出了一种利用成像透镜对强折射轴对称场中折射率的干涉再现方法。该方法与其它方法相比较能够精确地确定折射率ｎ（ｒ）的值。     

薄Si膜对基底表面粗糙度的影响

利用ＺＹＧＯ光学干涉测量仪，散射积分测量法观测了光学元件表面均方根粗糙度．详细分析了薄Ｓｉ膜对基底均方根粗糙度的影响，由此认为薄膜并不总是复制基底表面的粗糙度，结果出现了薄膜降低表面粗糙度的现象．提出了一定厚度范围的薄Ｓｉ膜的表面粗糙度存在着一个稳定值的新设想．     

集群通信市场的划分及网络建设

文章简要介绍主流数字集群移动通信体制的主要特性,分析数字集群移动通信市场主要用户的构成,以及各类用户对调度指挥通信需求的特征,最后探讨运营各类数字集群通信网络应考虑的若干因素。     

薄膜干涉型光学全通滤波器的设计与分析

设计并分析了用于多信道色谱补偿的薄膜Gires-Tournois干涉仪（GTI）型光学全通滤波（OAPF），讨论了反射镜的膜层结构对器件 的群延迟谱和反射谱的影响，。以及大角度入射引起的偏分离现象和幅度畸变现象，给出了单级和多级串拉OAPF的初步设计结果。     

利用单片机和CPLD实现直接数字频率合成(DDS)

与传统的频率合成方法相比，DDS合成信号具有频率切换时间短，频率分辨率高，相位变化连续等诸多优点，使用单片机灵活的控制能力以及良好的人机对话功能与CPLD器件的高性能，高集成度相结合，可以克服传统DDS设计中的很多不足，从而设计开发出性能优良的DDS系统。     

L波段全电调式频率综合器

介绍一种新型的L波段频率综合器。该综合器在电路设计,使用器件和外围设备等方面有许多的改进和更新。这些措施对提高综合器的MTBF值非常有效,并在多项工程中得到验证。结果表明其稳定可靠性已完全能满足工程需要。