泰瑞达推出超大规模集成测试系统INTEGRAJ750：半导体测试技术的突破

泰瑞达收到15台系统订单泰瑞达公司集成测试部门——致力于向半导体生产厂商提供高度集成、低成本测试技术的新部门——最近推出超大规模集成测试系统INTEGRA J750系列。泰瑞达已向全球多个用户售出了15台此系统。泰瑞达创新地应用半导体技术将64通道的数字子系统集成在一块板上。这使得INTEGRA J750能够在一个占地面积为零的测试头上提供多达1024个数字通道,这在当今的ATE工业中创下了集成度的最高纪录。该系统的另一大特点便是使用IG-XL测试软件,它是结合了最新PC技术及我们所熟悉的标准Windows     

提高IC的氮气保护密封烧结质量

分析了ＩＣ的氮气密封烧结工艺过程中存在的问题，并提出了改进措施，使密封烧结成品率提高了２４％。     

用边界元法提取VLSI版图电阻

介绍了ＶＬＳＩ版图验证中电阻提取的基本原理和主要方法，给出了一种新颖的基于边界元法的电阻提取算法。该算法采用变节点单元，较好地解决了实际问题中经常出现的角点问题。通过应用该算法对几个实例进行提取，证明使用本文的算法不仅在精度上而且在占用ＣＰＵ时间上都取得了令人满意的效果     

VHDL逻辑综合及FPGA实现

运用ＶＨＤＬ语言描述了一个１２×１２位的高速补码阵列乘法器。重点是运用ＶＨＤＬ逻辑综合优化该乘法器，并进行了乘法器的ＸｉｌｉｎｘＦＰＧＡ实现、功能仿真和时序仿真。经选用ＸＣ４００５ＰＣ－８４－４芯片进行验证，证明了其正确性     

多媒体电脑和电视调谐卡

简要介绍多媒体电脑电视调谐卡的构成框图和莫托洛拉有关集成电路的特点。     

串行E^2PROM 24CXX及IC卡中的应用

文章介绍串行ＣＭＯＳ Ｅ＾ＰＲＯＭ ２４ＣＸＸ在ＩＣ卡中的应用，并以２４Ｃ０１为例对它们的读写操作和通信协议进行了重点阐述。     

IC卡电话系统的安全性初探

本文介绍了ＩＣ卡电话的芯片、算法和系统的安全性，提出了由ＩＣ卡电话系统经营者掌握安全性的方法的意义。