一种用于电气设备状态监测的新式FBG传感器北大核心CSCD

为了监测绕组变压器的静态应力场和发生短路等故障时的动态应力变化,设计了一种用于电气设备状态监测的新式FBG传感器。该传感器由聚醚醚酮材料封装的FBG构成,通过内部圆锥形空腔结构实现将轴向应力集中于FBG敏感位置。通过仿真对不同压力强度下传感器结构的应力场部分及形变趋势进行了计算与分析,论证了设计的合理性。实验分别对静态载荷和动态冲击进行测试,结果显示,在静态压载测试中,当100 N相似文献   

基于改进的模糊综合评判方法的聚表剂性能评价

聚表剂凭借其良好的增黏性,抗盐性以及乳化特性成为陆相油田潜在的优势驱替剂.以华鼎Ⅰ、海博BI和DG聚表剂为研究对象,分析了影响聚表剂溶液黏度性质的单因素指标,基于改进的模糊综合评判方法对三种聚表剂的粘度性能进行优选;通过并联岩心模型驱油实验对优选结果进行验证.结果表明华鼎Ⅰ的粘度性能最优,DG聚表剂的粘度性能最差;并联岩心驱油实验中以改善剖面能力为验证指标与模糊评价结果相吻合;以采出程度为验证指标与模糊评价结果不吻合,原因在于不同聚表剂之间的洗油能力存在差异.综合来看,改进的模糊数学评判方法对于聚表剂的优选具有一定的参考意义.     

Link-16时隙资源动态分配技术研究

本文针对作战平台在作战活动中对时隙资源的变化需求,研究了一种时隙资源的动态分配方式,很好地解决了Link-16时隙资源的灵活使用问题。     

基于增材制造空心点阵结构的压缩变形研究

点阵结构具有质量轻、承压性能好、比刚度大等特点,广泛应用于轻量化部件与承压结构。采用选区激光熔覆技术制备了316L不锈钢空心点阵结构,通过准静态压缩实验和有限元数值模拟,研究了含不同尺寸空心微柱的点阵结构在压缩变形时的失效和变形模式及其成因。结果表明:316L不锈钢材料的空心管状结构在点阵压缩过程中无明显压溃失稳,其结构失效模式是由节点失效诱发微柱变形,进而造成整体失效;结构的变形模式为整体均匀变形,但是当壁厚和外径较小时,边界层将因刚度不足而率先变形;增大空心微柱尺寸可使结构刚度增大。     

基于纵横弯曲有限元法的套管扶正器安放计算

套管扶正器的安放问题一直以来都是石油作业的主要问题之一.基于纵横弯曲理论,考虑轴向载荷对梁弯曲变形的影响,将套管离散成BEAM188梁单元,进行几何非线性有限元分析.通过水平段、斜直段、曲率段算例与解析解对比,验证了有限元法的准确性.对某一水平井进行了有限元计算,结果表明:共安放60个扶正器,套管弯曲变形小于许可偏心距,满足工程要求.     

润湿效应对吸光度测量的影响

为了提高分光光度法在快速定量分析中的准确性,从润湿效应形成的机理及分光光度法的检测光路出发,提出了分析影响样本吸光度测量的一种研究方法。从理论上研究润湿效应下弯曲液面曲率对样本吸光度测量的影响;根据弯曲液面对测量的影响使用ZEMAX软件对检测光路进行重新设计;通过测量细菌悬液的吸光度,并根据测量的吸光度对细菌生长进行曲线拟合来对设计的检测光路进行实验验证。结果表明,润湿效应对分光光度法在快速定量检测时有着不可忽视的影响,且随着浓度的增加其影响就越大。     

浅谈高铁信号工程静态验收及联锁试验内容

新建客专线在投入使用前设备接管单位应做好静态验收及相关联锁试验,文章简单阐述了信号工程静态验收应具备的条件和信号联锁验收的分类及内容。     

转动中的材料形变检测方法探讨

扇叶因转动会产生形变,引起形变的参数主要由扇叶的形状以及旋转速度构成。本文主要介绍了寻找转动中材料形变的相应规律而设计的一系列实验及实验成果展示。不同于现有的观测方式,实验创新性地运用光学锁相成像技术获得的周期运动物体的准静态图像来定量测量形变程度,分析并找出相应规律,极大地降低了测试成本,在工程设计、产品检测等方面有着积极重要的意义。     

一种实现时序快速有效收敛的时钟树综合方案

针对低频下数字集成电路实现时序收敛需要插入大量缓冲器而导致芯片布线困难、运行时间较长等问题,提出了一种降低时钟树级数与增加保持时间余量相结合的时钟树综合方案。基于CSMC 0.35 μm CMOS工艺,采用提出的方案,使用IC Compiler和Prime Time工具,分别完成了应用于高精度隔离型Σ-Δ ADC芯片的低速数字滤波器的物理设计以及静态时序分析。结果表明,与传统方案相比,保持时间负松弛总值降低了95.62%,时序收敛所需缓冲器个数减少了约98.13%,运行时间缩短了97.25%,有效地降低了布线拥塞程度,快速有效地实现了时序收敛。     

静态存储器中子单粒子翻转截面的预测模型

中子是近地空间和核爆的主要辐射源之一,中子二次反应诱发的单粒子效应极大地影响了电子元器件的可靠性。本文针对商用体硅工艺静态存储器(SRAM)单元提出了一种中子饱和翻转截面预测模型。通过一个电路级的仿真模型,对应于辐射作用距离的线性电荷沉积(LET)效应可以通过基于SPICE仿真曲线来表现,进而用来预测翻转截面。该方法简单有效,预测结果与130 nm体硅工艺的中子实验结果吻合。